取りたい欠陥だけを取る！『画像検査システム』

過検出を極限まで抑えた独自の画像検査技術をご紹介。

従来の画像検査機では、高精細な欠陥検出ができても、良品を不良品と間違えて判断する過検出が起こっていました。 当社が独自開発した画像検査アルゴリズムは、目視検査の過検出抑制と高精細自動検査を両立した画期的技術です。 この技術を利用し、幅広い分野へ自動検査ソリューションをご提供しております。 【対応分野】 検版、シールラベル、カード、容器、ブランクス　など また、当社では7/13...

メーカー・取り扱い企業： シリウスビジョン(旧ナビタスビジョン) 株式会社 横浜技術センター