【超音波探傷検査】非破壊で素材内部の微細な欠陥を検出

エコー波形表示で縦横の断面状況を確認できる！非破壊で素材内部の微細な欠…

『超音波探傷システム』は、超音波波形データを画像化して画像処理技術にて 欠陥を検出し、欠陥を検出する為の好適な条件（探触子・周波数・搬送系など） を試験により選定します。 長年培った画像処理、ハードウェアのノウハウで超音波探傷を自動検査装置 として展開。 お客様のニーズにより、卓上型手動検査装置やローダー／アンローダーを 備えた自動検査装置としてもご提供致します。 【特長...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社宇部情報システム

【事例で解説】外観検査システムの課題と限界

汎用の検査装置では検知できない微細で複雑な欠陥について、実際に当社が行…

・外観検査の背景と課題 市場伸長が見込まれる画像処理システム市場の現状と、 外観検査自動化のメリット、検査装置導入時・導入後の課題について、 纏めております。 ・微細化が進む電子回路基板のパターン検査課題 複雑化・微細化していき、検出が難しい電子回路基板のパターン欠陥について、当社で独自開発した検査手法をご紹介します。 ・複数光学条件が必要な外観検査自動化における課題 対象物...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社宇部情報システム

【外観検査】カラー＆モノクロラインカメラ対応！原反検査システム

カラーラインカメラ＆モノクロラインカメラともに対応！シート、フィルム、…

『原反検査システム』は、途切れ無く連続的に流れる無地の原反製品表面に 発生する欠陥（異物、キズ、スジ、ピンホール等）を検出します。 運転動作中に検出された欠陥画像をリアルタイムに表示。 画像データは検出位置情報と共に記録されており、集計ソフト（オプション） を利用して、運転終了後に検出結果を再確認できます。 また、運転動作中に検出された欠陥の位置を、カメラの位置を基点に一定距離 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社宇部情報システム

【全数検査対応】容器外観検査システム

フィルタ処理や欠け検査など多種の検査機能！独自の検査処理を設定できます

『容器外観検査システム』は、容器を回転させながら外観を撮像し、画像を 分析し欠陥を検出します。 エリアセンサカメラとラインセンサカメラを組み合わせることにより、内面・ 外面・側面の全面検査を実現。また、画像処理を高速でおこなうため、全数 検査にも対応できます。 また、エッジ検出、直線近似、楕円近似、マスク処理、フィルタ処理、2値化 などを組合せて独自の検査処理を設定できます。 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社宇部情報システム

パターン外観検査システム

マスター登録方式を採用！16Kラインセンサカメラによる超高解像度画像処…

『パターン外観検査システム』は、モノクロ／カラーラインセンサカメラ （最大16K）により超高解像度の画像を撮像し、オープン・ショート・欠け・ 異物・凹凸などの各種欠陥を高精度に検出します。 検査対象パターン輪郭を直線で囲み、マスタとなる形状を登録し、輪郭の内側・ 外側を個別に検査します。検出強度を個別に設定することが可能。 お客様のニーズにより、卓上型手動検査装置やローダー／アン...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社宇部情報システム

【事例集プレゼント】画像処理システム構築ソリューション

ソフト・ハードの両面から画像処理検査の最適化を総合的にサポート。導入事…

『URCP』は、様々な業種・製品の検査で導入実績がある、当社製の 画像処理ソフトウェアをパッケージングしたシステム構築ソリューションです。 検査対象や条件などニーズに適したソフトウェアの提案・カスタマイズや 新規開発、光学機器の選定や、検査装置の設計・組立・搬送・納品、 アフターフォローまで、画像処理検査の最適化をトータルサポートします。 現在、ソリューションの導入事例を進呈中で...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社宇部情報システム