【SiC・GaN対応】パワーデバイステスター（半導体テスター）

SiC、GaNなど新素材に対応すべく、高耐圧、高速スイッチング用途の計…

パワーデバイステスター『N50シリーズ』『N54シリーズ』は、 ディスクリート半導体や小規模なロジックデバイスに特化した製品です。 ニーズに応じてSiC、GaNデバイスにも対応できる計測や治具開発も行います。 【ラインアップ】 ＜『N50シリーズ』（200V耐圧仕様）＞ 　■FPGAの搭載でテスター内部をフルロジックで同期でき、高速測定を実現 　■コンパクトなサイズでハンドラ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社日本技術センター

『マルチ光学特性評価装置』

パネルの自動入れ替え・連続計測に！

することにより、無人で連続測定・評価を行う事が出来る装置です。 パネルの脱着・パネルの測定面の移動・視野角変更等を すべて多軸ロボットで行うことで、装置のコストダウンを図りました。 また、治具クランプをスライドさせることにより、 10インチまでのパネルに対応できます。 外装カバーにより暗幕等の設備が不要です。 【特長】 ■パネル脱着の手間を省く ■多軸ロボットの採用でコ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社日本技術センター