環境制御機能搭載・超高性能AFM/SPM　Cypher ES

抜群の性能を誇る Cypher S にフル装備の環境制御機能を拡張追加…

アサイラム・リサーチの Cypher ES AFM/SPM（原子間力顕微鏡） は、抜群の性能を誇る Cypher S のプラットフォームにフル装備の環境制御機能を拡張追加したモデルです。Cypher S と同じ高分解能、スピードそして安定性を持ちながら、0 ～ 250°Cの温度範囲において制御された、ガス・液中環境や厳しい化学的環境の中でも、容易に操作が可能です。Cypher ES は、最も過酷な...

メーカー・取り扱い企業： オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社

干渉計『ProView』

精密な計測と検査が可能！ファイバー素線端面向け干渉計／マイクロスコープ

『ProView』は、クラッドの直径が125～720pmのファイバー端面の 精密な計測と検査を可能とする高度な干渉計です。 本製品は、 簡単・迅速・非常に正確な端面検査が必要とされる 生産ライン向けに設計されています。 R&D環境およびファイバークリーブ工程内の用途にも適しています。 融着スプライサ・クリーバ・および他の準備ツールと 並んで使用できるコンパクトな設計。 USB...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ティー・イー・エム