粒子画像分析およびラマン分光分析装置『モフォロギ4』

低コントラスト粒子も正確に解析！高再現性を実現！

『モフォロギ4』では、粒子を撮像して解析・数値化することで、 粒子径分布情報に加えて形状情報が加わり 凝集粒子、針状粒子、桿状粒子を数値として管理できます。 本製品は新たに開発された粒子輪郭検知アルゴリズム「シャープエッジ機能」を搭載し、 これまで検出が難しかった低コントラスト粒子も正確に解析できるようになりました。 【特長】 ■粒子輪郭検知アルゴリズム「シャープエッジ機能」を...

メーカー・取り扱い企業： スペクトリス株式会社 マルバーン・パナリティカル事業部

高出力レーザ用FFP計測装置

～10Wクラス高出力レーザの放射角度分布計測に対応したFFP計測装置

『高出力レーザ用FFP計測装置』は、～10Wクラス高出力レーザの 放射角度分布（ファーフィールドパターン）を高精度で迅速に測定する装置です。 専用設計の高出力レーザ用FFP計測光学系M-Scope type HFと2次元画像検出器・ 画像処理方式の組合せで、高出力発光素子や発光モジュールからの出射ビームの 放射角度分布（FFP：ファーフィールドパターン）をリアルタイムで取得・測定可能で...

メーカー・取り扱い企業： シナジーオプトシステムズ株式会社

光ビーム解析モジュール『AP013』

さまざまな光ビーム解析に対応する高機能画像処理解析システム

『AP013』は、レーザや光ファイバ・光モジュールなどの光ビームプロファイル 計測をはじめ、NFP・FFP・コリメート光等のさまざまな発光パラメータ計測を 目的とした画像処理・解析用モジュールです。 当社の光計測用光学系M-Scopeシリーズ・2次元光検出器ISAシリーズとの組合せにより、 可視～近赤外波長域のさまざまな光ビーム観察・光パラメータ計測に応用が可能です。 【特長】 ...

メーカー・取り扱い企業： シナジーオプトシステムズ株式会社

光学系方式超微細導波路挿入損失測定装置

シリコンフォトニクス導波路等の微細構造導波路デバイスの挿入損失を高速・…

『光学系方式超微細導波路挿入損失測定装置』は、当社の簡易型光計測用光学系 M-Scope type Jを使用した光学系方式挿入損失自動測定装置です。 光ファイバ計測ポートと同軸観察画像検出器により、被測定光導波路の 入射側・出射側コア端面画像を直接観察、同時に光ファイバによる 自動パワー調芯を行います。 画像処理による粗調芯と光ファイバ微調芯（光パワー調芯）を併用、 超微細導波...

メーカー・取り扱い企業： シナジーオプトシステムズ株式会社

ZUETEC社SpectraAlyzer BRAUMEISTER

ZUETEC社のSpectraAlyzerのBRAUMEISTERは、…

このシステムは、ドイツで開発・製造・販売をしているスペクトル画像のレファレンスサンプルを利用した光学的分析装置です。この装置を使用することにより、サンプル評価のために各工程で必要な試薬が不要となります。また、その工数や時間も低減できます。 ビール生産工程では、モルトの解析、糖化、麦汁のろ過、発酵、成熟、充填といった様々な工程で、水分や麦汁のエキスや苦み（IBU)、アルコール、pH値、密度、色...

メーカー・取り扱い企業： デルフトハイテック株式会社