分析講座【表面分析（XPS、TOF-SIMS）】ライブ、特典付　

本講座は、表面分析手法であるXPS (ESCA）とTOF-SIMSの原…

特に、質疑応答の時間を充実させ、個別の質疑応答にも対応しております。 本講座では、表面の組成や化学構造、官能基の分析手法である、[1]X線光電子分光法（XPS / ESCA）、[2]飛行時間型２次イオン質量分析法（TOF-SIMS）について、原理と特徴、応用事例を紹介します。 [1] XPS / ESCA：材料表面中に存在する水素, ヘリウムを除くすべての元素の組成と化学結合状態を評価する手法...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社東レリサーチセンター