株式会社東レリサーチセンター 分析講座【表面分析（XPS、TOF-SIMS）】ライブ、特典付
- 最終更新日：2024-05-27 13:06:25.0
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特に、質疑応答の時間を充実させ、個別の質疑応答にも対応しております。
本講座では、表面の組成や化学構造、官能基の分析手法である、[1]X線光電子分光法（XPS / ESCA）、[2]飛行時間型２次イオン質量分析法（TOF-SIMS）について、原理と特徴、応用事例を紹介します。
[1] XPS / ESCA：材料表面中に存在する水素, ヘリウムを除くすべての元素の組成と化学結合状態を評価する手法。エッチングを併用した深さ方向分析、気相化学修飾法を適用して有機材料のカルボキシル基・水酸基・第１アミンなどの検出・定量が可能。仕事関数など電子状態の解析も可能。
[2]TOF-SIMS：極最表面における微小部（～数μm）の微量有機物および無機物の定性分析を行う手法で、微量表面汚染物や異物の分析に有効。存在量の試料間比較が可能。ガスクラスターイオンビームを併用し、有機物においても表面ダメージを抑えた、深さ分析が可能。
カリキュラム：
1.表面分析の概要
2.X線光電子分光法（XPS / ESCA）とは
3.飛行時間型２次イオン質量分析法（TOF-SIMS）とは
4.各種分析手法を用いた総合解析事例
基本情報分析講座【表面分析（XPS、TOF-SIMS）】ライブ、特典付
講座名：分析基礎講座【表面分析（XPS、TOF-SIMS）】ライブ配信
開催日時：2024年7月24日（水）13:00～16:00
会場：※会社やご自宅のパソコンで視聴可能な講座です
※ 本セミナーの受講にあたっての推奨環境は「Webex」に依存します。ご自分の環境が対応しているか、お申し込み前の確認をお勧めいたします。
受講料：（税込み）38,500円（税込）
【ＬＩＶＥ配信分析講座について】
本講座はビデオ会議ツール「Webex」を使ったライブ配信のウェビナー（オンラインセミナー）となります。
講座開催日時に、ウェビナー参加用URLにログインしていただき、ご視聴頂きます。
事前配布資料は、参加者のみのご利用に限定いたします。
「Webex」についてはこちら(https://www.webex.com/ja/index.html)をご参照ください。
“ビキナー応援キャンペーン”特典
詳細は、以下リンクをご覧ください。
https://www.toray-research.co.jp/service/seminar/analysis_seminar.html
| 価格情報 | オンライン講座：38,500 円（税込、テキスト費用を含む） |
|---|---|
| 価格帯 | 1万円 ~ 10万円 |
| 用途／実績例 | https://www.toray-research.co.jp/service/seminar/analysis_seminar.html をご覧下さい。 |
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■受託分析 ・分析対象：半導体・実装、ディスプレイ・プリンター、電池・エネルギー、自動車、工業材料、環境、ライフイノベーション、医薬、バイオ ■受託調査 ・調査対象：化学・材料、環境・エネルギー・ライフサイエンス、その他 ■教育事業 ・分析基礎講座：分光分析、顕微鏡、物性分析、医薬分析、クロマトグラフィー、有機分析、発生ガス、電池、実習付き講座等 ■製品販売 ・ピンポイント濃縮プレート
