• 【非破壊検査向け】UV光源装置『SUPERLITE I04』  製品画像

    【非破壊検査向け】UV光源装置『SUPERLITE I04』

    蛍光探傷、磁探傷に適したUV光源装置

    コンパクトかつ高出力。FPI(蛍光浸透探傷検査)に最適です。 ≪特長≫ ・コンパクト設計 ・白色光を含まない純粋な紫外線の照射 ・シンプルな切り替え方式(白色光/紫外線、ON/OFF) 内蔵したフィルターは、白色光を含まない純粋な紫外線を照射するため、非常に小さい内包物や傷も明確に見ることができます。 白色光のぎらつきによる不快感をなくすために、 自動アンチグレア機能が組...

    メーカー・取り扱い企業: ケイエルブイ株式会社

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