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    脂質ナノ粒子の開発を上流から下流まで網羅する『Sunシリーズ』

    PR製剤条件のスクリーニングからスケールアップ、GMP製造までをシームレス…

    脂質ナノ粒子(LNP)の開発は多くの課題に直面します。 製剤を作製し、最適化し、臨床試験のためのスケールアップは、 コストがかかる上に複雑で、時間との戦いでもあります。 弊社のLNPソリューションは、LNPの合成と特性解析の 全てのステップを加速化するようにデザインされています。 Sunscreenは、コストと時間を削減し、6時間以内に最大96のユニークな LNP製剤を生成することで、LNP製...

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    メーカー・取り扱い企業: Unchained Labs株式会社

  • エルボ・ベンド管用部材『スーパーエルボ』<導入実績付き資料進呈> 製品画像

    エルボ・ベンド管用部材『スーパーエルボ』<導入実績付き資料進呈>

    PR摩耗や閉塞のトラブルを減少させ、メンテコストを削減。既存システムを変更…

    『スーパーエルボ』は、配管コーナー部に設置することで、 空気輸送における摩耗・閉塞・粒子変形などの問題を防げる配管部材です。 出入口の間に設けた窪み内で空気と粉体粒子が緩やかに回転することにより 管壁への輸送物の衝突を抑制でき、配管の長寿命化を実現。 取付寸法が小さく、省スペースに設置が可能です。 当社は他にも、粉体や粒体等を水平・垂直・傾斜など 様々な方向に輸送できる「チュー...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社山本工作所

  • パーティクルセンシングモニター『AES-FPシリーズ』 製品画像

    パーティクルセンシングモニター『AES-FPシリーズ』

    精密部品の製造工程やクリーン度が必要な作業環境における空気清浄度管理の…

    『AES-FPシリーズ』は、クリーンルームやクリーンブース、半導体・フィルム・食品の製造工程、印刷工程、病院施設などの清浄度管理を求める環境で、0.3μm(もしくは0.5μm)以上の粒子の常時監視が可能なモニターです。クラス(Class)値で浮遊粒子の見える化に対応し、HACCP管理にも役立ちます。センサユニットは、生産装置等への組み込み用途にも適したコンパクト設計で、狭小スペースへの設置が可能で...

    メーカー・取り扱い企業: 神栄テクノロジー株式会社

  • パーティクルカウンタ『Model 5301C・5501C』 製品画像

    パーティクルカウンタ『Model 5301C・5501C』

    インライン測定を実現!自己補償型自由噴流センサを採用した加圧Air対応…

    今までパーティクルカウンタは、センサの構造上、大気圧下における吸引サンプリングのみに対応し、圧縮空気・ガス中の粒子測定はできないものと考えられていました。 一方、HACCPの制度化、ISO22000移行(2021年6月)では、食品に直接、 あるいは、間接的に接触するガス類についても、埃・菌・水・油の 管理が必要となっています。 また、プローエアなど空圧系での清浄度監視の需要も少なく...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社パーティクルプラス

  • ハンドヘルドパーティクルカウンタ 「P311」 製品画像

    ハンドヘルドパーティクルカウンタ 「P311」

    《3粒子径の同時測定が可能》小型・静音・軽量ボディと3.5インチの液晶…

    エアリーテクノロジー社製ハンドヘルドパーティクルカウンタ 「P311」は、3粒子径の同時測定ができ、小さく、静音、軽量ボディと3.5インチの液晶搭載。 コストパフォーマンスを追及した、ユーザーフレンドリー性の高い、パーティクルカウンタです。 【特徴】 ○測定粒径 0.3μm から 5.0μm(設定可変) ○吸引量 2.83リットル/分 ○最軽量570gの耐衝撃プラスティックボディ ...

    メーカー・取り扱い企業: 伸榮産業株式会社 本社、関東営業所

  • パーティクルカウンタ 『7301』 製品画像

    パーティクルカウンタ 『7301』

    6粒径・高機能小型!長寿命化と静音化を実現した側方光散乱方式微粒子計測…

    『7301』は、1秒ごとのパルスをスクリーンにリアルタイムに表示する リアルタイムメータ、個数濃度と換算質量濃度(?g)を表示、多様な コミュニケーションなどの機能を提供する光散乱方式微粒子計測器です。 専用プリンタはどの機種にも共通。スマートバッテリー機能にて一回の 充電で一ヶ月間、現場に置いたまま測定ができます。連続測定は6時間。 IMSソフトはUSB、イーサネット経由にてパ...

    メーカー・取り扱い企業: 伸榮産業株式会社 本社、関東営業所

  • 表面パーティクル検出器『QIII SM / ST / SX』 製品画像

    表面パーティクル検出器『QIII SM / ST / SX』

    試料表面のパーティクルを簡単・迅速に測定可能!

    『Pentagon Technologies社製 QIII』は、わずか数秒で試料表面のパーティクルを検出/測定可能な装置です。 試料表面上のパーティクルを簡単・迅速に測定でき、クリーニングの手順と基準を定量的に 規定できるため、作業者の勘と経験に頼ること無く粒子管理のバラつきを抑えます。 精密洗浄パーツの出荷前・受入時の品質確認や各種製造装置のクリーン 維持管理に適しています。 また、「QI...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社エムアイティ

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