• 【書籍】造粒プロセスの最適化と設計・操作事例集(No.2227) 製品画像

    【書籍】造粒プロセスの最適化と設計・操作事例集(No.2227)

    PR【試読できます】★ 各種造粒のメカニズム、プロセス、操作パラメータ設定…

    ★ シミュレーション、AIを駆使した造粒プロセス最適化、連続生産システムの構築! --------------------- ■ 本書のポイント ● 造粒のスケールアップに必要な操作パラメータの適切な設定 ● 造粒装置・操作におけるトラブルと対策 ● 造粒物の粒度分布・粒子径・流動性・付着性の評価 ● 造粒のリアルタイムモニタリング、固形製剤連続生産システムの構築 ......

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社技術情報協会

  • カールフィッシャー法 水分測定技術セミナー 製品画像

    カールフィッシャー法 水分測定技術セミナー

    PR5年ぶりに対面式の復活!職場で今すぐ使えるポイント教えます

    日東精工アナリテック株式会社は、対面形式での水分測定技術セミナーを 5年ぶりに開催いたします。 カールフィッシャー(KF)水分測定法へのご理解をさらに深めて いただくために、KF法の原理、KF試薬の選び方、日常のメンテナンスに ついての解説やアプリケーション例と合わせて詳しくご紹介いたしますので 皆様の奮ってのご参加を心よりお待ちしております。 ご用命の際は、当社へお気軽にお問...

    メーカー・取り扱い企業: 日東精工アナリテック株式会社

  • 【半導体分野へご提案】表面検査装置・レジスト・精密位置制御 製品画像

    【半導体分野へご提案】表面検査装置・レジスト・精密位置制御

    弊社が得意とする【半導体分野向けソリューション】をお客様に合わせてご提…

    弊社が得意としているナノオーダーの表面解析機器の他、 半導体プロセス向けのレジスト液、マスクレス露光装置、精密位置制御装置をご提案致します。...

    メーカー・取り扱い企業: 日本カンタム・デザイン株式会社

  • [SEM]走査電子顕微鏡法 製品画像

    [SEM]走査電子顕微鏡法

    高倍率観察(30万倍程度まで)が可能

    ackScattered Electron;BSE)像、透過電子(Transmitted Electron;TE)像の観察が可能 ・加速電圧0.1~30kVの範囲で観察が可能 ・最大6インチまで装置に搬入可能(装置による) ・SEMにオプションを組み合わせることにより、様々な情報を得ることが可能  EDX検出器による元素分析が可能  電子線誘起電流(EBIC)を測定し、半導体の接合位置・...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 小型二次電子検出器『MINI-SED』 製品画像

    小型二次電子検出器『MINI-SED』

    コンパクトな設計で省スペースの取付けが可能!装置開発のための電子検出器

    出器『MINI-SED』は、シンチレータタイプの検出器で、 反射電子、二次電子を捕獲し増幅して電気信号として出力します。 コンパクトな設計のため、省スペース化を実現できます。 また、既存の装置への機能追加として使用可能です。 短タイプ(先端長:50 mm)、細タイプ (先端径:φ10mm)など 特殊仕様等のご相談にも対応いたします。 【特長】 ■pAからμAまでの幅広い電...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アプコ

  • JSM-IT800 電界放出形走査電子顕微鏡 製品画像

    JSM-IT800 電界放出形走査電子顕微鏡

    今まで得られなかった情報の取得やお困りの測定への改善が期待できます。

    するために追求したGUI "SEM Center" に自社製EDSを組込んだシステムを共通のプラットフォームとしています。 SEMの対物レンズをモジュールとして置き換えることで、様々なニーズに応じた装置を提供します。 〇特長 ・インレンズショットキーPlus 電界放出電子銃(FEG) ・JEOLの電子光学技術の粋を集めた次世代型電子光学制御システム搭載 ・SEM Center・EDSインテグレー...

    メーカー・取り扱い企業: アズサイエンス株式会社 松本本社

  • JSM-IT510 InTouchScope 走査電子顕微鏡 製品画像

    JSM-IT510 InTouchScope 走査電子顕微鏡

    SEMの観察作業をより効率よく、より楽に行えるようになりました。

    【仕様】 JSM-IT510 Seriesは4タイプがあります。 ・BU (Base Unit)  高真空下での観察が可能なベーシックタイプ ・A (Analysis)  エネルギー分散型X線分析装置 (EDS) が構成された、標準で分析が可能な分析タイプ ・LV (Low Vacuum)  反射電子検出器(BED)が構成された、低真空下 (最大650 Pa) での観察が可能な低真空タイプ ・L...

    メーカー・取り扱い企業: アズサイエンス株式会社 松本本社

  • NeoScope ネオスコープ 卓上走査電子顕微鏡 製品画像

    NeoScope ネオスコープ 卓上走査電子顕微鏡

    光学顕微鏡の隣に一台置けば、異物分析や品質管理を、よりスピーディーに、…

    00 NeoScope ネオスコープ 卓上走査電子顕微鏡は、「誰でもSEM/EDSを操作できる」がコンセプトの卓上走査電子顕微鏡です。 光学像を拡大すればSEM像が観察できる「Zeromag」、分析装置を立ち上げなくても観察中の視野の元素が分かる「Live Analysis」、SEM観察中に三次元観察が可能な「Live 3D」等の機能を搭載しました。 〇特長 ・卓上SEM JCM-7000 で無...

    メーカー・取り扱い企業: アズサイエンス株式会社 松本本社

  • ショットキー電界放出形走査電子顕微鏡『JSM-7900F』 製品画像

    ショットキー電界放出形走査電子顕微鏡『JSM-7900F』

    操作性に優れオペレーターのスキルに依存せずに常に高いパフォーマンスを発…

    ショットキー電界放出形走査電子顕微鏡『JSM-7900F』を取り扱っております。 電子光学条件を変更しても、光軸のズレがほとんどなく、 操作性や観察の精度が大きく向上し、どなたでも容易に装置本来の性能を 引き出すことができます。 【特長】 ■オート機能の向上  ・数秒でフォーカスを合わせることが可能 ■倍率精度の向上  ・高精度の測長も可能 ■エネルギーフィルタの使い...

    メーカー・取り扱い企業: コスモトレーディング株式会社

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