小型通気式固体培養装置

PRシンプルな構造とすぐれた操作性！微生物によるものづくり

『小型通気式固体培養装置』は、実用規模の固体培養装置と同質の 基質通気式品温制御を採用した製品です。 産業化を想定した通気式固体培養を再現性高く行うことが可能。 また、品温制御が連続基質通風方式のため、産業化を見据えた培養実験を 小規模で再現性高く行うことが出来ます。 原料投入から洗浄までの全ての工程を一人で対応できるシンプルな 構造と優れた操作性は、高い評価を得ています。 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社フジワラテクノアート

技術資料『JIS規格「分銅」と製造工程の紹介』

PRJIS分銅の製造から市場供給までの流れをご紹介。JIS規格の概要も解説

当社は、質量計測を主軸とし、天びん・分銅の製造や校正サービスを手掛けています。 100年以上にわたって蓄積したノウハウを元に、高度な技術が求められる 機械式はかりの組立や、1μgレベルの高精度な質量調整・校正が可能です。 本資料では、分銅の信頼性を担保する「JISマーク付き分銅」について紹介。 精度等級や特性評価基準などのほか、製造・検査工程などを紹介しています。 【掲載内容(一...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社村上衡器製作所

ブルカー自動車向け分析・計測ソリューションカタログ

高速赤外イメージング顕微鏡やトライボロジー評価試験機などを掲載！

ます。 自己診断・自動性能検査機能標準装備したプレミアムコンパクト FT-IR 「ALPHA II」をはじめ、研究開発用FT-IR スペクトロメータ「INVENIO R」、 トライボロジー評価試験機「UMT-TriboLab」などを掲載。 製品の選定にご活用下さい。 【掲載製品（一部）】 ■プレミアムコンパクト FT-IR「ALPHA II」 ■高性能プロセスガス分析 F...

メーカー・取り扱い企業： ブルカージャパン株式会社 オプティクス事業部

Wafer ATRにおけるシリコンウェハー表面の高精度分析

【無料プレゼント】MIRS法を応用した新たなアプローチである製品をご紹…

シリコンウェハー (Si ウェハー)表面の特性は、材料としての機能性に 大きく影響し、とくにウェハー表面に形成される各種薄膜の化学的評価が ますます重要となっています。 当資料で紹介する「Wafer ATR」は、いわゆるMIRS法を応用した新たな アプローチであり、フランス原子力庁電子情報研究所CEA-Letiの グルー...

メーカー・取り扱い企業： ブルカージャパン株式会社 オプティクス事業部

オンライン用近赤外分析計（FT-NIR） MATRIX-F II

非破壊分析・品質管理に必需品となった近赤外分析計（FT-NIR）、プロ…

プロセス用近赤外分光計（FT-NIR）のMATRIX-F IIは設置環境を選ばない堅牢性と、再現性の高い分析結果を与える抜群の感度安定性が特徴です。...【特徴】 ○ ネットワーク対応・ブラウザオペレーション ○ 独自のケモメトリクスアルゴリズムにより迅速・高精度の定性・定量分析が可能。 ○ 21CFR part11対応 ○ バリデーション対応、自己診断機能内蔵 ○ オンライン・インライ...

メーカー・取り扱い企業： ブルカージャパン株式会社 オプティクス事業部