反射用レプリカ解析システム『ASA-03RXD』

スピーディで豊富な解析項目と、簡便な操作性を実現！高精度な測定が可能

状、定量解析を行います。 シワでは得られた解析画像を基に深度に応じて色が変化するため、 合成画像による深度の変化が捉えやすくなりました。 【特長】 ■専用の解析ソフトはキメ・シワ等の識別を自動認識で行い、個数、体積、 　面積等を自動的に計算するとともに、識別された部位を着色表示できる ■高性能デジタル画像処理により、高精度な測定が可能 ■採取したレプリカを専用マウントに固定す...

メーカー・取り扱い企業： 日本アッシュ株式会社 本社