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    マイクロリアクターULREA(アルリア)シリーズ

    PR各種ナノ粒子の超精密合成、大量生産ができます。

    ULREA(アルリア)シリーズは2枚のディスク間にできるマイクロメートルオーダーの間隙を反応場、晶析場として応用した湿式法・連続式の反応装置です。 金属、合金、酸化物、複合酸化物、有機顔料など各種ナノ粒子の超精密合成・表面処理と大量生産が容易に実現できます。 その他、マイクロスフェア、ナノスフェアも容易に創製可能です。 【ULREA(アルリア)の特長】 1. 確実なスケールアッ...

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    メーカー・取り扱い企業: エム・テクニック株式会社

  • 【分析事例】量子化学計算によるLIB成分の酸化還元耐性比較 製品画像

    【分析事例】量子化学計算によるLIB成分の酸化還元耐性比較

    電解液中の溶媒・添加剤の分解されやすさ、分解生成物などを予想できます

    起電力の高いリチウムイオン電池(LIB)において、充放電過程における電解液の分解を抑えるような設計が重要です。酸化還元耐性の低い成分を添加することで、充放電過程における主溶媒の分解を抑制するとともに、良質なSEI(Solid Electrolyte Interphase)を形成することが可能です。シミュレーショ...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】酸化ガリウムGa2O3 イオン注入ダメージ層の評価 製品画像

    【分析事例】酸化ガリウムGa2O3 イオン注入ダメージ層の評価

    イオン注入後のアニール条件の違いによる差異を確認

    酸化ガリウムGa2O3は、SiCやGaNよりもバンドギャップが広く、優れた物性を有することから、高効率・低コストが期待できるパワーデバイス材料として注目を集めています。デバイスの開発には、特性を左右する不純物濃度や結晶性の制御が重要です。本資料では、イオン注入による結晶構造の乱れから生じるダメージ層及び表面粗さの変化を、アニール条件毎に観察した結果を示します。 測定法:TEM・AFM 製品分野:酸化...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】Cu表面のXPSによる酸化状態評価 製品画像

    【分析事例】Cu表面のXPSによる酸化状態評価

    Cuスペクトルの成分分離、定量、膜厚算出

    ル等の解析から、Cu表面の結合状態・定量評価・膜厚評価が可能です。 主な応用例として、Cu配線のCMP処理・洗浄の評価、Cu電極の錆・変色調査が挙げられます。 各種処理を施したCu表面状態および酸化膜厚についてまとめます。 (クリーンルーム環境下にて処理し、直後に測定を行うことが可能です。)...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】IGZO(粉末・バルク・薄膜)の組成・不純物分析 製品画像

    【分析事例】IGZO(粉末・バルク・薄膜)の組成・不純物分析

    主成分及び金属不純物元素の定量分析

    透明酸化物半導体であるIGZO薄膜はディスプレイ用TFT材料として研究開発が進んでいます。 IGZOは薄膜の組成や膜中の不純物量で特性が変化する材料であり、組成・不純物の情報を得ることは重要です。 今回...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

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