株式会社Wave Technology
最終更新日:2019-12-24 16:44:54.0
イベントディテクタシステム(環境試験槽連動)【パンフレット】
基本情報イベントディテクタシステム(環境試験槽連動)【パンフレット】
イベントディテクタシステム(環境試験槽連動)
・温度サイクル槽と連動して、導通部分の瞬断を1μsecの分解能でモニタリングすることができるシステムです。・半導体PKGの接続信頼性試験等で活用頂いております。
イベントディテクタシステム(環境試験槽連動)
・温度サイクル槽と連動して、導通部分の瞬断を1μsecの分解能でモニタリングすることができるシステムです。
・半導体PKGの接続信頼性試験等で活用頂いております。 (詳細を見る)
取扱会社 イベントディテクタシステム(環境試験槽連動)【パンフレット】
半導体およびその応用製品の開発・設計 ◇高周波・光半導体の設計・開発 ◇筐体・機構設計、シミュレーション ◇パワーエレクトロニクス関連設計・開発 ◇アナログ・デジタル電気回路の設計・開発 ◇カスタム計測システム設計、半導体パッケージ設計
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