株式会社Wave Technology イベントディテクタシステム（環境試験槽連動）
- 最終更新日：2019-12-26 14:33:33.0
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イベントディテクタシステム（環境試験槽連動）
・温度サイクル槽と連動して、導通部分の瞬断を1μsecの分解能でモニタリングすることができるシステムです。
・半導体PKGの接続信頼性試験等で活用頂いております。
基本情報イベントディテクタシステム（環境試験槽連動）
・最大160chの瞬断Eventを同時にモニタリング可能。
・集録用、Viewerの2本のアプリケーションを用意しております。
・新規/既存に関わらず、最大15種類のファイルを同時に扱うことが可能。
・12ch/1ブロック又は20ch/1ブロックのシステムを用意可能。
| 価格帯 | お問い合わせください |
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| 納期 | お問い合わせください |
| 用途／実績例 | ・大手半導体メーカー様の実装信頼性試験 ・組み込み機器実装信頼性試験 等で用いられております。 |
カタログイベントディテクタシステム（環境試験槽連動）
取扱企業イベントディテクタシステム（環境試験槽連動）
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半導体およびその応用製品の開発・設計 ◇高周波・光半導体の設計・開発 ◇筐体・機構設計、シミュレーション ◇パワーエレクトロニクス関連設計・開発 ◇アナログ・デジタル電気回路の設計・開発 ◇カスタム計測システム設計、半導体パッケージ設計
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