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最終更新日:2019/03/18

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Technical-News アルミイオン注入SIMS深さ分析

基本情報Technical-News アルミイオン注入SIMS深さ分析

高感度の元素分析や低エネルギーイオンによる深さ分解能の優れた測定が可能。

半導体材料開発には不純物分析が重要ですが,高感度で分析できる二次イオン質量分析(SIMS)が適しています。

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半導体材料開発には不純物分析が重要ですが,高感度で分析できる二次イオン質量分析(SIMS)が適しています。
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取扱会社 Technical-News アルミイオン注入SIMS深さ分析

株式会社イオンテクノセンター

1.受託物理分析 2.イオン注入加工

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