株式会社イオンテクノセンター ロゴ株式会社イオンテクノセンター

最終更新日:2019-03-18 11:49:16.0

  •  

表面分析 二次イオン質量分析(SIMS)

基本情報表面分析 二次イオン質量分析(SIMS)

物理分析を行う装置を揃え、立会い分析も可能な受託分析サービスを行っています

主な装置は「HR-TEM」「Q-pole型SIMS」「μESCA」「RAMAN」など。ミクロ・ナノレベルの表面分析におけるノウハウの蓄積があり、信頼性の高いデータを短期間で提供することができます。また未知試料の分析についてもアドバイスします。

【表面分析 二次イオン質量分析(SIMS)】
○数keVのCsやO2イオンをサンプルに照射して放出される2次イオンの質量分析によって、水素を含む全元素の組成分析を行う手法。

○高感度の元素分析や低エネルギーイオンによる深さ分解能の優れた測定が可能。

●詳しくはカタログをダウンロード、もしくはお問い合わせください。

表面分析 二次イオン質量分析(SIMS)

表面分析 二次イオン質量分析(SIMS) 製品画像

主な装置は「HR-TEM」「Q-pole型SIMS」「μESCA」「RAMAN」など。ミクロ・ナノレベルの表面分析におけるノウハウの蓄積があり、信頼性の高いデータを短期間で提供することができます。また未知試料の分析についてもアドバイスします。

【表面分析 二次イオン質量分析(SIMS)】
○数keVのCsやO2イオンをサンプルに照射して放出される2次イオンの質量分析によって、水素を含む全元素の組成分析を行う手法。

○高感度の元素分析や低エネルギーイオンによる深さ分解能の優れた測定が可能。

●詳しくはカタログをダウンロード、もしくはお問い合わせください。 (詳細を見る

取扱会社 表面分析 二次イオン質量分析(SIMS)

株式会社イオンテクノセンター

1.受託物理分析 2.イオン注入加工

表面分析 二次イオン質量分析(SIMS)へのお問い合わせ

お問い合わせ内容をご記入ください。

至急度必須

ご要望必須


  • あと文字入力できます。

目的必須

添付資料

お問い合わせ内容

あと文字入力できます。

【ご利用上の注意】
お問い合わせフォームを利用した広告宣伝等の行為は利用規約により禁止しております。
はじめてイプロスをご利用の方 はじめてイプロスをご利用の方 すでに会員の方はこちら
イプロス会員(無料)になると、情報掲載の企業に直接お問い合わせすることができます。
メールアドレス

※お問い合わせをすると、以下の出展者へ会員情報(会社名、部署名、所在地、氏名、TEL、FAX、メールアドレス)が通知されること、また以下の出展者からの電子メール広告を受信することに同意したこととなります。

株式会社イオンテクノセンター


成功事例