株式会社イオンテクノセンター
最終更新日:2019-03-18 11:49:16.0
表面分析 二次イオン質量分析(SIMS)
基本情報表面分析 二次イオン質量分析(SIMS)
物理分析を行う装置を揃え、立会い分析も可能な受託分析サービスを行っています
主な装置は「HR-TEM」「Q-pole型SIMS」「μESCA」「RAMAN」など。ミクロ・ナノレベルの表面分析におけるノウハウの蓄積があり、信頼性の高いデータを短期間で提供することができます。また未知試料の分析についてもアドバイスします。
【表面分析 二次イオン質量分析(SIMS)】
○数keVのCsやO2イオンをサンプルに照射して放出される2次イオンの質量分析によって、水素を含む全元素の組成分析を行う手法。
○高感度の元素分析や低エネルギーイオンによる深さ分解能の優れた測定が可能。
●詳しくはカタログをダウンロード、もしくはお問い合わせください。
表面分析 二次イオン質量分析(SIMS)
主な装置は「HR-TEM」「Q-pole型SIMS」「μESCA」「RAMAN」など。ミクロ・ナノレベルの表面分析におけるノウハウの蓄積があり、信頼性の高いデータを短期間で提供することができます。また未知試料の分析についてもアドバイスします。
【表面分析 二次イオン質量分析(SIMS)】
○数keVのCsやO2イオンをサンプルに照射して放出される2次イオンの質量分析によって、水素を含む全元素の組成分析を行う手法。
○高感度の元素分析や低エネルギーイオンによる深さ分解能の優れた測定が可能。
●詳しくはカタログをダウンロード、もしくはお問い合わせください。 (詳細を見る)
取扱会社 表面分析 二次イオン質量分析(SIMS)
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