株式会社イオンテクノセンター
最終更新日:2019-03-18 11:49:12.0
表面分析 X線光電子分光分析(ESCA・XPS)
基本情報表面分析 X線光電子分光分析(ESCA・XPS)
物理分析を行う装置を揃え、立会い分析も可能な受託分析サービスを行っています
主な装置は「HR-TEM」「Q-pole型SIMS」「μESCA」「RAMAN」など。ミクロ・ナノレベルの表面分析におけるノウハウの蓄積があり、信頼性の高いデータを短期間で提供することができます。また未知試料の分析についてもアドバイスします。
【表面分析 X線光電子分光分析(ESCA・XPS)】
○X線をサンプルに照射して表面から数nmの深さから放出される光電子のエネルギー分析により元素を同定し組成・化学結合状態を分析する手法。
○絶縁物の表面分析に適しており、Arイオンエッチングによる深さ分析や10μm径のビームによる局所分析が可能。
●詳しくはカタログをダウンロード、もしくはお問い合わせください。
表面分析 X線光電子分光分析(ESCA・XPS)
主な装置は「HR-TEM」「Q-pole型SIMS」「μESCA」「RAMAN」など。ミクロ・ナノレベルの表面分析におけるノウハウの蓄積があり、信頼性の高いデータを短期間で提供することができます。また未知試料の分析についてもアドバイスします。
【表面分析 X線光電子分光分析(ESCA・XPS)】
○X線をサンプルに照射して表面から数nmの深さから放出される光電子のエネルギー分析により元素を同定し組成・化学結合状態を分析する手法。
○絶縁物の表面分析に適しており、Arイオンエッチングによる深さ分析や10μm径のビームによる局所分析が可能。
●詳しくはカタログをダウンロード、もしくはお問い合わせください。 (詳細を見る)
取扱会社 表面分析 X線光電子分光分析(ESCA・XPS)
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