東レ・プレシジョン株式会社
最終更新日：2019-06-26 15:50:55.0
機械設計や製作をサポート
基本情報機械設計や製作をサポート
超精密微細加工技術のパイオニアとして、高精度・高品位の製品を送り出している、東レ・プレシジョン株式会社の技術カタログです。
【掲載内容 ※詳しくはカタログをご覧ください。】
東レ・プレシジョン株式会社は、豊富な実績をもとに、機械設計・製作を通じてお客さまのものづくりをサポート致します。
＝設計・解析例＝
○設計事例
・各種ノズル（塗布ノズル、紡糸ノズル...etc）
・スリットダイ
・機器関係（機密性検査機、抵抗測定マイクロ治具...etc）
○解析事例
・構造解析（変形、応力）
・熱流体解析（スリットダイ内の流れ、ノズル周りの流れ...etc）
○設計ツール
・Solid Works
・Auto CAD...etc
※詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
ノズル・コーティング用ダイ【設計から製作までサポート致します】
＞＞ こんな時に声を掛けて下さい！ ＜＜
・塗布用、紡糸用ノズルなどの各種ノズル、コーティング用ダイなどを設計・製作したい。
・CAE解析(構造解析、熱流体解析)したい。
・2次元データを3次元化したい。手書き図面をCADデータ化したい。 ...etc
【設計・解析例】
○設計事例
・各種ノズル（塗布ノズル、紡糸ノズル...etc）
・スリットダイ
・機器関係（機密性検査機、抵抗測定マイクロ治具...etc）
○解析事例
・構造解析（変形、応力）
・熱流体解析（スリットダイ内の流れ、ノズル周りの流れ...etc）
○設計ツール
・Solid Works
・Auto CAD...etc
※詳しくはカタログをダウンロードして頂き、お気軽にお問合せください。
（詳細を見る）
集束イオンビーム加工観察装置【加工事例有り】
【PRポイント】
○φ1um以下の超微細穴加工が可能
○微細な構造加工が可能 ...etc
【集束イオンビーム（FIB）加工の原理】
数十ナノメートル程度に集束したイオンビームを試料表面で走査する事で発生した2次電子を検出し
顕微鏡像の観察、試料表面の加工が可能。FIBのイオン源にはガリウムイオンを使用しており、その
イオンビームを試料の表面に照射すると、
試料表面から2次電子が発生すると共に、ガリウムイオンが電子と比較してはるかに重い事から、
試料を構成する原子をはじき出すいわゆるスパッタリング現象が発生し、はじき出された原子は
2次イオンとなって試料から飛び出します。これらの現象を利用することで、観察と加工を行います。
【仕様】
・最大ワークサイズ 50(X)×50(Y)×10(Z)mm
・最小加工サイズ（目安） 溝幅：100nm(～L/D=3）、穴径φ200nm（～L/D=5）
・高プローブ電流による高速＆大面積加工
・極低加速電圧による低ダメージ加工(TEM試料作製等）
※加工例・実績例を掲載中です。詳しくはお問い合わせ、カタログをダウンロードしてご覧下さい。 （詳細を見る）
取扱会社 機械設計や製作をサポート
○合成繊維紡糸用口金の製造販売 ○FPD関連のスリットダイ、塗布ノズルの製造販売 ○インクジェットノズルの製造販売 ○光通信コネクター等光通信関連精密部品・デバイスの製造販売 ○航空機用、産業ロボット用・半導体製造装置・産業用機器用等各種精密部品の製造販売 ○燃料噴射弁、各種流体噴射ノズルの製造販売 ○金属3Dプリンターによる部品の造形販売・造形品2次加工サービス ○パーツフィーダの製造販売 ○エア交絡ノズル、精密計量ギヤポンプ等繊維機械類の製造販売 ○FIBによるSIM像の3D再構築解析サービス ○各種のMicro-Engineering業務
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