機械設計や製作をサポート

　　　＞＞　こんな時に声を掛けて下さい！　＜＜
・塗布用、紡糸用ノズルなどの各種ノズル、コーティング用ダイなどを設計・製作したい。
・CAE解析(構造解析、熱流体解析)したい。
・2次元データを3次元化したい。手書き図面をCADデータ化したい。　...etc

【設計・解析例】
○設計事例
　・各種ノズル（塗布ノズル、紡糸ノズル...etc）
　・スリットダイ
　・機器関係（機密性検査機、抵抗測定マイクロ治具...etc）
○解析事例
　・構造解析（変形、応力）
　・熱流体解析（スリットダイ内の流れ、ノズル周りの流れ...etc）
○設計ツール
　・Solid Works
　・Auto CAD...etc

※詳しくはカタログをダウンロードして頂き、お気軽にお問合せください。
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【PRポイント】
○φ1um以下の超微細穴加工が可能
○微細な構造加工が可能 　...etc
【集束イオンビーム（FIB）加工の原理】
数十ナノメートル程度に集束したイオンビームを試料表面で走査する事で発生した2次電子を検出し
顕微鏡像の観察、試料表面の加工が可能。FIBのイオン源にはガリウムイオンを使用しており、その
イオンビームを試料の表面に照射すると、
試料表面から2次電子が発生すると共に、ガリウムイオンが電子と比較してはるかに重い事から、
試料を構成する原子をはじき出すいわゆるスパッタリング現象が発生し、はじき出された原子は
2次イオンとなって試料から飛び出します。これらの現象を利用することで、観察と加工を行います。
【仕様】
・最大ワークサイズ　 50(X)×50(Y)×10(Z)mm
・最小加工サイズ（目安） 溝幅：100nm(～L/D=3）、穴径φ200nm（～L/D=5）
・高プローブ電流による高速＆大面積加工
・極低加速電圧による低ダメージ加工(TEM試料作製等）

※加工例・実績例を掲載中です。詳しくはお問い合わせ、カタログをダウンロードしてご覧下さい。 （詳細を見る）