株式会社イオンテクノセンター
最終更新日:2019-03-18 11:49:04.0
マイクロESCAによる分析 事例集
基本情報マイクロESCAによる分析 事例集
400LPIの銅メッシュ(メッシュ間隔:63.5μm)の分析結果を掲載しております!
当事例集では、400LPIの銅メッシュ(メッシュ間隔:63.5μm)を
マイクロESCA(Quantum-2000)により分析した結果を紹介しております。
二次電子像から分析視野を指定してその領域の銅の面分析を行った結果
二次電子像に対応した銅の分布が得られ、さらにこのデータから測長機能を
利用してメッシュ間距離などを測ることができます。
【掲載概要】
■マイクロESCAによる分析
※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
マイクロESCAによる分析 事例集
当事例集では、400LPIの銅メッシュ(メッシュ間隔:63.5μm)を
マイクロESCA(Quantum-2000)により分析した結果を紹介しております。
二次電子像から分析視野を指定してその領域の銅の面分析を行った結果
二次電子像に対応した銅の分布が得られ、さらにこのデータから測長機能を
利用してメッシュ間距離などを測ることができます。
【掲載概要】
■マイクロESCAによる分析
※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。 (詳細を見る)
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