株式会社イオンテクノセンターマイクロESCAによる分析事例集

最終更新日：2019-03-18 11:47:10.0
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400LPIの銅メッシュ（メッシュ間隔：63.5μm）の分析結果を掲載しております！

当事例集では、400LPIの銅メッシュ（メッシュ間隔：63.5μm）を
マイクロESCA（Quantum-2000）により分析した結果を紹介しております。

二次電子像から分析視野を指定してその領域の銅の面分析を行った結果
二次電子像に対応した銅の分布が得られ、さらにこのデータから測長機能を
利用してメッシュ間距離などを測ることができます。

【掲載概要】
■マイクロESCAによる分析

※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

関連リンク - http://iontc.co.jp/project/physical_analysis/#page…

基本情報マイクロESCAによる分析事例集

【掲載内容】
■X線光電子分光分析（ESCA）の概要
■マイクロESCAによる400LPIの銅メッシュ（メッシュ間隔：63.5μm）の分析
■分析結果

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