応用電機株式会社 会社案内

応用電機株式会社は、主に電子プリント基板の実装や各種産業用電
子機器の設計製作を行っている会社です。

豊富な経験と実績で、ものづくりのあらゆる工程で最適なソリュー
ションを提供します。

内製化により、短納期・高品質を実現し、計測とメカトロをシステ
ム化致しますので、お気軽にご相談下さい。

【事業内容】
■電子・光学を応用した測定・計測機器、メカトロ機器、
　医用機器の開発、設計、製造

※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。 （詳細を見る）

各種デバイス（TSOP，BGA，QFP，CSP）、各種電子部品用のハンドラーを
お客様の仕様に応じて設計・製作します。

多数個処理、高速インデックス、常温・高温環境等の技術、そして、
自重落下搬送方式から水平搬送方式まで用途に応じた提案が可能です。

低コストの専用機として、半導体や電子部品の製造プロセスの高効率化に
寄与しています。

【特長】
■お客様の仕様に応じて設計・製作
　→各種デバイス（TSOP，BGA，QFP，CSP）、各種電子部品用のハンドラー
■多数個処理
■高速インデックス
■常温・高温環境等の技術
■自重落下搬送方式から水平搬送方式まで用途に応じた提案が可能
■低コストの専用機として、半導体や電子部品の製造プロセスの高効率化に寄与

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太陽電池評価装置は太陽電池モジュールを非接触で破壊することなく個々の
太陽電池セルの特性を測定できる装置です。

従来、太陽電池の評価は擬似太陽光（ソーラーシミュレータ）を太陽電池に
照射して出力される電気特性を測定することで行っていました。
その方法では太陽電池モジュール全体の特性を知ることはできますが、
モジュールを構成するセルごとの特性を知ることができませんでした。

本装置は半導体のEL(Electroluminescence)効果を利用し、セルごとの
電気的特性を高速で計測することを可能にしています。

太陽電池の生産量は現在も年率30～40％増という高い水準で推移しており、
本装置への期待も高まっています。

【特長】
■太陽電池モジュールを破壊することなく太陽電池セルの特性を測定
■非接触型評価装置
■半導体のEL(Electroluminescence)効果を利用
■セルごとの電気的特性を高速で計測することが可能

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高速シリアル伝送システムは、LVDSを使用し低速（Mbps）～高帯域（Gbps）の
シリアルバスを持つシステムを構築可能です。
分散型制御システムによる高速データ通信が必要な用途向けのシステムです。

「開発の一例」として、Xilinx社製のFPGA（Virtex5等）を用いた
高速シリアルデータバス（最大1.25Gbps）を実現するシステムがあります。

マスターボード1枚とスレーブボード7枚がバックプレーンを通して高速に
データ通信するシステムで、各ボードのCPUにPowerPCを採用し、
OSはLinuxを搭載しています。

【特長】
■LVDSを使用
　→低速（Mbps）～高帯域（Gbps）のシリアルバスを持つシステムを構築可能
■分散型制御システムによる高速データ通信が必要な用途向けのシステム

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CCDやCMOS形のイメージセンサ、エリアセンサ、リニアセンサ、
近赤外線センサなどの半導体の性能試験（検査）をする際に使用する光源装置です。

光源装置は、半導体製造前工程テスト（ウェハの電気的特性試験）や、
後工程テスト（パッケージの電気的機能試験）、R＆D評価試験などで、
テストシステム装置と接続して使用されます。

各種テストシステムと接続が可能で、300mmウェハ対応、低照度対応、
色温度管理に優れています。

【特長】
■半導体の性能試験（検査）をする際に使用する光源装置
　→CCDやCMOS形イメージセンサ・エリアセンサ・リニアセンサ・近赤外線センサなど
■テストシステム装置と接続して使用
　→半導体製造前工程テスト（ウェハの電気的特性試験）
　→後工程テスト（パッケージの電気的機能試験）
　→R＆D評価試験など

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ロジックデバイスで代表されるように、半導体テクノロジーはすさまじい
勢いで進化しており高速化、多機能化、多ピン化傾向となっています。

デバイスの機能を測定する半導体検査装置をお客様の仕様に基づき、
専用機として設計製作します。

長大テストパターンを考慮した大容量パターンメモリの搭載、
高タイミング精度、100MHzのテスト周波数での高速ファンクションテスト、
512ピンの多ピン対応、コストパフォーマンスの大幅向上を図る
複数個同時測定等に対応可能です。

【特長】
■お客様の仕様に基づき、専用機として設計製作
■長大テストパターンを考慮した大容量パターンメモリの搭載
■高タイミング精度
■100MHzのテスト周波数での高速ファンクションテスト
■512ピンの多ピン対応可能
■コストパフォーマンスの大幅向上を図る複数個同時測定等に対応可能

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超音波骨密度測定装置『LD-100』は、手首にあるとう骨に超音波を
照射した際に生じる2波（高速波と低速波）を検出し、骨密度と骨厚を
計測する装置です。

海綿骨に超音波をあてた際、骨梁に依存して伝搬する“高速波”と粘弾性のある
骨髄に依存し伝搬する“低速波”の2波に分かれる特異現象が発生します。

本装置は、独自の演算システムの開発と高感度なセンサーの搭載により、
2波それぞれの音速や減衰率など伝搬特性の個別解析を行い、骨密度と骨厚の
定量評価が可能です。

また、骨質の指標として注目されている海綿骨の弾性も測定し、骨密度に
加えて複合的に骨の強度を測定します。

【特長】
■骨密度と骨厚を計測する装置
　→手首にあるとう骨に超音波を照射した際に生じる2 波（高速波と低速波）を検出
■2波それぞれの音速や減衰率など伝搬特性の個別解析
　→骨梁に依存して伝搬する“高速波”
　→粘弾性のある骨髄に依存し伝搬する“低速波”

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静脈認証装置は、ひとりひとり同形状のものが存在しないとされる手指の
血管形状を赤外線CCDカメラで撮像し、特殊な画像処理と特徴点抽出・
特徴点マッチングを用いて個人認証を完結させるセキュリティシステムです。

FPGAにより高速での画像処理を実現しています。

【特長】
■手指の血管形状を赤外線CCDカメラで撮像
■特殊な画像処理と特徴点抽出
■特徴点マッチング
■個人認証を完結させるセキュリティシステム
■FPGAにより高速での画像処理を実現

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お客様のニーズに応え続け、育てて頂いた40年。
ひたすら非規格少量生産に徹し、産業用計測制御機器を中心に
常時千種におよぶ製品を手掛けています。

「計測・制御機器」では、電子部品、半導体部品の検査装置やマイコン、
FPGA等を組み込んだ各種のインターフェース、コントローラーを手掛けています。

「電源」では、高精度のプログラマブル電圧、電流源や計測システムに
使用可能な低ノイズの電源などを手掛けています。

「情報・画像処理機器」では、デジタル変換された画像信号に対して、
特徴点抽出・特徴点マッチングを行う高速演算処理ユニット、ネットワークを
利用してそれらの情報を集中管理するシステムなどを手掛けています。

「メカトロニクス装置」では、計測・画像処理を組み込んだ電子部品、
半導体部品業界の様々なニーズに合わせた省力化、自動化設備を心掛けています。

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指定された電圧・電流値の印加および計測に加え、DDS技術の採用により、
過渡応答パターンとしての電源の立上がり・立下りの波形および印加時間が
制御できるとともに、その時流れた電流、発生した電圧の計測が可能です。

FPGAとマイコン制御により周辺回路の小型化を実現しています。
本電源は主に半導体検査装置と組み合わせて使用されます。

【特長】
■指定された電圧・電流値の印加および計測
■DDS技術の採用
■過渡応答パターンとしての電源の立上がり・立下りの波形および印加時間を制御
■その時流れた電流、発生した電圧の計測が可能
■FPGAとマイコン制御により周辺回路の小型化を実現
■本電源は主に半導体検査装置と組み合わせて使用

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