CCDやCMOS形のイメージセンサ、エリアセンサ、リニアセンサ、
近赤外線センサなどの半導体の性能試験（検査）をする際に使用する光源装置です。
光源装置は、半導体製造前工程テスト（ウェハの電気的特性試験）や、
後工程テスト（パッケージの電気的機能試験）、R＆D評価試験などで、
テストシステム装置と接続して使用されます。
各種テストシステムと接続が可能で、300mmウェハ対応、低照度対応、
色温度管理に優れています。
【特長】
■半導体の性能試験（検査）をする際に使用する光源装置
→CCDやCMOS形イメージセンサ・エリアセンサ・リニアセンサ・近赤外線センサなど
■テストシステム装置と接続して使用
→半導体製造前工程テスト（ウェハの電気的特性試験）
→後工程テスト（パッケージの電気的機能試験）
→R＆D評価試験など
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
基本情報【納入実績】計測・制御機器 イメージセンサ検査用 標準光源装置
【その他の特長】
■各種テストシステムと接続が可能
■300mmウェハ対応
■低照度対応
■色温度管理に優れている
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カタログ【納入実績】計測・制御機器 イメージセンサ検査用 標準光源装置
取扱企業【納入実績】計測・制御機器 イメージセンサ検査用 標準光源装置
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応用電機は，ソフト・回路開発からプリント基板の設計，システムの構築までを，お客様のご要望をもとに計測技術や画像処理技術，自動化技術を駆使し，お客様の目的や条件に最も適した各種の生産機器や検査装置を開発・製造してお届けします． 製造工程については，基板設計，機械設計から板金・機械加工，プリント基板実装，組立配線，検査まで重要工程を一貫して内製化することにより，安定した品質を維持するとともに，大幅な納期短縮とコストダウンを実現します． お客様の製品のＯＥＭや受託生産についても一貫工程とISO9001に基づく品質システムで効率的な生産を行います． また環境目標に「鉛入りはんだの使用量削減」を掲げ鉛フリー化・ＲｏＨＳ対応を全社で促進し，対応設備の導入，従業員の訓練，製品の評価など取り組んでいます．お客様の要求に基づき鉛フリーはんだでの生産に対応します． それとともに事業活動及び製品が環境に与える影響を常に意識しISO14001に基づく環境マネジメントシステムを構築し取り組んでいます．
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