RFテストプラットフォーム『RTX2012 HS』

DECT/DECT6.0/CAT-iq/Japan DECT用　高性能・高機能RFテストプラットフォーム

『RTX2012 HS』は、コネクトモードで広い周波数をサポートするDECT/
DECT6.0/CAT-iq/JAPAN DECTのRFテストプラットフォームです。

製造工程で高スループットを実現できるような設計がなされています。また、
R&Dの環境においても、オプションを拡張することによって十分な測定ツールになります。

当製品は、機能を追加することにより、ハンドセット（子機）あるいは、
ベースステーション（親機）の両方の測定で使うことができます。

【特長】
■高性能
■高機能
■コネクトモードで広い周波数をサポート
■製造工程で高スループットを実現できるような設計
■オプションの拡張により、十分な測定ツールになる

詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。