DECT/DECT6.0/CAT-iq/Japan DECT用 高性能・高機能RFテストプラットフォーム
『RTX2012 HS』は、コネクトモードで広い周波数をサポートするDECT/
DECT6.0/CAT-iq/JAPAN DECTのRFテストプラットフォームです。
製造工程で高スループットを実現できるような設計がなされています。また、
R&Dの環境においても、オプションを拡張することによって十分な測定ツールになります。
当製品は、機能を追加することにより、ハンドセット（子機）あるいは、
ベースステーション（親機）の両方の測定で使うことができます。
【特長】
■高性能
■高機能
■コネクトモードで広い周波数をサポート
■製造工程で高スループットを実現できるような設計
■オプションの拡張により、十分な測定ツールになる
詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
基本情報RFテストプラットフォーム『RTX2012 HS』
【仕様】
■変調信号：PSRB / SPSR / BS55 / BS33 / BS0F / FIG31 / BS20
■RF出力レベル：-100dBm～-40dBm
■音声：DUT（PPまたはFP）への音声信号のループバックをサポート
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| 価格帯 | お問い合わせください |
|---|---|
| 納期 | お問い合わせください |
| 用途／実績例 | ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。 |
カタログRFテストプラットフォーム『RTX2012 HS』
取扱企業RFテストプラットフォーム『RTX2012 HS』
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