電子基板・部品の解析

高度な分析と”考察力”でお客様の問題解決！電子基板の解析事例をご紹介

「電子基板・部品の解析」は、お客様の”知りたいレベル”に応じて
表面分析手法をご提案します。

FT-IR(反射法・ATR法)をはじめ、XPS表面分析や、AES深さ分析など
電子基板配線パターンの銅表面を様々な手法で分析することで問題を
解決しました。

【電子基板の解析事例（配線パターン）】
■FT-IR(反射法・ATR法)
■XPS表面分析
■AES深さ分析
■TOF-SIMS分析
■熱分解GC/MS

※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。