新着！【技術資料】顕微FT-IRと顕微ラマンを用いたマイクロプラスチックの分析事例

VERTEX 70v シリーズ FT-IR スペクトロメータは、ブルカーの代表的な技術の一つであり様々な分野で評価の高い RockSolid 干渉分光計をベースとした、研究開発用途のエントリーモデルとして理想的なシステムです。

VERTEX 80 シリーズは、ブルカー独自のアクティブアライメント機構を搭載した UltraScan 干渉計を装備し、高分解能、超高速データサンプリングを可能にするハイエンドリサーチ FT-IR（フーリエ変換赤外分光計） です。

いずれもステップスキャンや超高速ラピッドスキャン測定も可能な高精度干渉計と高品質光学部品によるの明るい光学系により、最先端アプリケーションにおいて究極の感度とスタビリティを保証します。 （詳細を見る）

マイクロプラスチック汚染への関心がここ数年高まってきており、
遍在的な発生要因や将来の展望などが現在の研究対象となっています。

マイクロプラスチック粒子(Micro-Plastics Particles; MPP) は、
特に海洋などの環境中に拡散した5mm未満の直径を有する
微小なプラスチック粒子を指します。

MPPを詳細に分析することで、MPPの起源と形成の両面について結論を導き、
汚染の程度を判断する取り組みがなされています。

当資料では、顕微FT-IRと顕微ラマンを用いたマイクロプラスチックの
分析について、解析事例や測定事例とともにご紹介しています。

【掲載内容】
■FT-IR分光法によるマイクロプラスチックの分析
■解析事例：フィルター濾過されたMPPの自動解析
■解析事例：MPPの誤検出
■測定事例：ビスコースレーヨンとセルロースの識別
■ラマン分光法によるMPPの分析
■まとめ

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 （詳細を見る）

『SENTERRA II』は、品質管理等のルーチン分析から先端の研究分野まで対応する
ブルカーならではの高性能システムです。

一般的なラマン顕微鏡では、分光器が顕微鏡と分離されたシステムがほとんどで、
性能を維持するために多くの時間を割く必要があります。
当製品は励起レーザー、分光器、顕微鏡が一体となったコンパクトかつ堅牢な
統合システムで、その効率的な光学設計により、高い性能と安定性を達成しています。

また、迅速に結果が得られるようにスムーズかつ的確にオペレーターをサポート。
試料の可視観察からスペクトル品位の確認、測定領域の設定まで、データ測定の
手順をステップごとにガイドします。

【特長】
■高度に自動化された各種機能と効率的な操作性
■コンパクト＆堅牢設計
■効率性と柔軟性

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シリコンウェハー (Si ウェハー)表面の特性は、材料としての機能性に
大きく影響し、とくにウェハー表面に形成される各種薄膜の化学的評価が
ますます重要となっています。

当資料で紹介する「Wafer ATR」は、いわゆるMIRS法を応用した新たな
アプローチであり、フランス原子力庁電子情報研究所CEA-Letiの
グループとの研究成果を製品化したものです。

【掲載内容】
■はじめに
■Wafer ATR(ウェハーATR)
　・多重内部反射による感度の向上
　・測定時の必要事項
■測定例
■判別分析
■まとめ
■参考文献

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HYPERION II は、赤外顕微鏡における技術革新です。赤外イメージングを回折限界に到達させ、顕微 ATR における基準を作りました。さらには透過・反射・ATR のすべての測定モードにおいて FT-IR 顕微鏡と赤外レーザーイメージング顕微鏡機能 (ILIM) の両方を 1 台で実現する、世界初のシステムです。


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赤外レーザーがもつエネルギー密度の高さを利用することで、非常に短時間で高品位の分光データを取得可能です。

この速度的アドバンテージは非常に大きく、従来と比較して桁違いのスピードでスペクトルイメージの取得が可能となっています。

このアプリケーションノートでは、赤外レーザーイメージングのメリットとその応用について説明します。

この資料では、
　▶　赤外レーザーイメージング：新たな分析ツール
　▶　赤外レーザーイメージングの適用方法
　▶　FT-IR vs 赤外レーザーイメージング：生体組織試料
　▶　レーザーイメージングにおける革新：空間コヒーレンス低減機構
などを、わかりやすく解説しています。
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