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最終更新日:2019-09-09 14:56:12.0

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EBSD分析(電子後方散乱回折法)

基本情報EBSD分析(電子後方散乱回折法)

結晶性試料の方位解析ができる手法です

EBSD分析における下記の情報を掲載しております
・装置概観
・特徴
・適用例
・原理
・装置構成
・データ例
・データ形式
・仕様
・料金
・速報納期
・必要情報
・注意点

EBSD分析(電子後方散乱回折法)

EBSD分析(電子後方散乱回折法) 製品画像

EBSDを利用して結晶性試料の方位解析ができる手法です。
電子回折法より容易にかつ広い領域の結晶情報を得ることができます。
EBSP:Electron Backscatter Pattern、SEM-OIM、OIMとも呼ばれます。

・単一結晶粒の面方位の測定が可能
・測定領域の配向測定が可能
・結晶粒径観察が可能
・双晶粒界(対応粒界)観察が可能
・特定結晶方位の抽出が可能
・隣接結晶粒の回転角の測定が可能
・透過法により10nm以上のグレインを評価可能 (詳細を見る

取扱会社 EBSD分析(電子後方散乱回折法)

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受託分析サービスで、研究開発を行う皆様をサポートします! 半導体・金属・電池などのエレクトロニクス材料や、医薬品・化粧品・食品・環境などのライフサイエンス分野に幅広く対応。 SIMS・TEM・XRD・ICP-MS・GC/MS・AES・SEM・EPMA・EELSなど、さまざまな分析装置を保有し、分析ニーズに応えます。 まずはご相談下さい。 ◆事業領域◆ 1. 科学技術分野における材料に関する基礎的研究及び解析・評価。 2. 半導体、生理学生化学、バイオ関連分野及び各種先端的分野についての基礎的研究及び解析・評価。 3. 1、2号に掲げる国内外における関連分野の研究機関又は個人に対する表彰及び支援。 4. 1、2号に掲げる研究成果等の出版または出版の支援。 5. 1、2号に掲げる国内外における関連分野の調査。 6. 1、2号に掲げる国内外における関連分野に関する研修の実施及び支援または研修所の運営。 7. その他目的を達成するために必要な事業。

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