ＴＥＭの基礎【抜粋版】

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『TEMの基礎』『TEMの応用と事例』※希望者全員にプレゼント

TEM（透過電子顕微鏡法）は、薄片化した試料に電子を照射し、
試料を透過した電子や散乱した電子を結像し、高倍率で観察する手法です。

MSTでは、TEMの特徴や試料作製方法など基礎知識を掲載した『TEMの基礎』と
代表的な分析事例や他手法との複合解析例などを掲載した『TEMの応用と事例』を進呈中！

写真や図を用いてわかりやすく紹介した資料です。

【掲載内容（一部）】
<TEMの基礎>
　■TEM、STEMで何がわかるか　■TEM、STEMの特徴
　■試料作製方法　　　　　　 ■コントラストの要因
　■TEM、STEMの使い分け　　　■超高分解能HAADF観察
<TEMの応用と事例>
　■分析事例
　　・雰囲気制御＆冷却下でのTEM分析
　　・SiCパワーMOSFETのコンタクト電極評価
　　・微細トランジスタの構造評価

※小冊子をご希望の方は「お問い合わせ」より、
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（ダウンロードいただけるPDF資料は冒頭の数ページとなります）（詳細を見る）

取扱会社ＴＥＭの基礎【抜粋版】

一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

受託分析サービスで、研究開発を行う皆様をサポートします！半導体・金属・電池などのエレクトロニクス材料や、医薬品・化粧品・食品・環境などのライフサイエンス分野に幅広く対応。 SIMS・TEM・XRD・ICP-MS・GC/MS・AES・SEM・EPMA・EELSなど、さまざまな分析装置を保有し、分析ニーズに応えます。まずはご相談下さい。 ◆事業領域◆ 1. 科学技術分野における材料に関する基礎的研究及び解析・評価。 2. 半導体、生理学生化学、バイオ関連分野及び各種先端的分野についての基礎的研究及び解析・評価。 3. １、２号に掲げる国内外における関連分野の研究機関又は個人に対する表彰及び支援。 4. １、２号に掲げる研究成果等の出版または出版の支援。 5. １、２号に掲げる国内外における関連分野の調査。 6. １、２号に掲げる国内外における関連分野に関する研修の実施及び支援または研修所の運営。 7. その他目的を達成するために必要な事業。