一般財団法人材料科学技術振興財団 MST 『TEMの基礎』『TEMの応用と事例』※希望者全員にプレゼント

高分子や半導体など、幅広い分野の研究開発に活躍するTEM(透過電子顕微鏡法)の基礎知識や分析事例を収録

TEM(透過電子顕微鏡法)は、薄片化した試料に電子を照射し、
試料を透過した電子や散乱した電子を結像し、高倍率で観察する手法です。

MSTでは、TEMの特徴や試料作製方法など基礎知識を掲載した『TEMの基礎』と
代表的な分析事例や他手法との複合解析例などを掲載した『TEMの応用と事例』を進呈中!

写真や図を用いてわかりやすく紹介した資料です。

【掲載内容(一部)】
<TEMの基礎>
 ■TEM、STEMで何がわかるか ■TEM、STEMの特徴
 ■試料作製方法       ■コントラストの要因
 ■TEM、STEMの使い分け   ■超高分解能HAADF観察
<TEMの応用と事例>
 ■分析事例
  ・雰囲気制御&冷却下でのTEM分析
  ・SiCパワーMOSFETのコンタクト電極評価
  ・微細トランジスタの構造評価

※小冊子をご希望の方は「お問い合わせ」より、
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(ダウンロードいただけるPDF資料は冒頭の数ページとなります)

基本情報『TEMの基礎』『TEMの応用と事例』※希望者全員にプレゼント

当社では、TEMによる分析をはじめ、様々な受託分析サービスを行っています。
貴社にお伺いし、本資料を元に訪問セミナーを実施することも可能です。
詳しくはお問い合わせください。

※同業の分析会社、及びその関連会社の方は、お申し込みをお断りすることがおります。あらかじめご了承ください。

価格帯 お問い合わせください
納期 お問い合わせください
用途/実績例 ※詳しくは資料をご覧ください。お問い合わせもお気軽にどうぞ。

カタログ『TEMの基礎』『TEMの応用と事例』※希望者全員にプレゼント

取扱企業『TEMの基礎』『TEMの応用と事例』※希望者全員にプレゼント

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一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

受託分析サービスで、研究開発を行う皆様をサポートします! 半導体・金属・電池などのエレクトロニクス材料や、医薬品・化粧品・食品・環境などのライフサイエンス分野に幅広く対応。 SIMS・TEM・XRD・ICP-MS・GC/MS・AES・SEM・EPMA・EELSなど、さまざまな分析装置を保有し、分析ニーズに応えます。 まずはご相談下さい。 ◆事業領域◆ 1. 科学技術分野における材料に関する基礎的研究及び解析・評価。 2. 半導体、生理学生化学、バイオ関連分野及び各種先端的分野についての基礎的研究及び解析・評価。 3. 1、2号に掲げる国内外における関連分野の研究機関又は個人に対する表彰及び支援。 4. 1、2号に掲げる研究成果等の出版または出版の支援。 5. 1、2号に掲げる国内外における関連分野の調査。 6. 1、2号に掲げる国内外における関連分野に関する研修の実施及び支援または研修所の運営。 7. その他目的を達成するために必要な事業。

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