日本セミラボ株式会社新横浜本社
最終更新日：2021-04-27 15:45:11.0
非接触CV測定装置
非接触CV測定装置 Cn0CV
世界に400台以上の実績を持つ非接触式の重金属汚染・CV/IV・膜評価装置です。
鉄濃度測定の感度はDSPVを採用することでE8を実現し、近年のCMOSイメージセンサーの歩留まり向上に寄与しております。
化合物半導体のCV測定が可能です。非接触で面内の濃度分布、プロファイル測定が可能です。 （詳細を見る）
取扱会社 非接触CV測定装置
■半導体測定装置の輸入販売及び技術サービスの提供 ■下記製品の取り扱いをしています。 分光エリプソメーター 非接触シート抵抗測定装置 DLTS測定システム ナノインデンター AFM（原子間力顕微鏡） キャリア移動度測定装置 非接触CV測定装置 ライフタイム測定装置 フォトルミネッセンス 装置仕様や価格情報などお気軽にお問い合わせください。
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