パーク・システムズ・ジャパン株式会社
最終更新日：2021-05-20 16:42:17.0
原子間力顕微鏡『Park NX-HDM』
原子間力顕微鏡『Park NX-HDM』
『Park NX-HDM』は、メディア及び基盤用の自動欠陥検査及びサブオング
ストローム表面粗さ測定が可能な原子間力顕微鏡です。
広範な光学検査装置と直接リンクし、自動欠陥検査のスループットを
大幅に向上させます。
また、繰り返し測定においてもサブオングストロームの正確な
表面粗さ測定を提供します。
【特長】
■メディアおよび基板用の自動欠陥検査
■正確なサブオングストロームの表面粗さ測定
■真の非接触モードによるコスト削減
■低ノイズZ検出器による正確なAFMトポグラフィー
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 （詳細を見る）
取扱会社 原子間力顕微鏡『Park NX-HDM』
【取扱製品】 ■研究用 ・小型サンプル対応AFM ・大型サンプル対応AFM ■生産ライン用 ・全自動AFM ■Bio and Chemical ・Bio AFM＆SICM
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