ハイエンドリサーチ用FT-IR 『VERTEX』シリーズ

シリコンウェハー (Si ウェハー)表面の特性は、材料としての機能性に
大きく影響し、とくにウェハー表面に形成される各種薄膜の化学的評価が
ますます重要となっています。

当資料で紹介する「Wafer ATR」は、いわゆるMIRS法を応用した新たな
アプローチであり、フランス原子力庁電子情報研究所CEA-Letiの
グループとの研究成果を製品化したものです。

【掲載内容】
■はじめに
■Wafer ATR(ウェハーATR)
　・多重内部反射による感度の向上
　・測定時の必要事項
■測定例
■判別分析
■まとめ
■参考文献

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マイクロプラスチック汚染への関心がここ数年高まってきており、
遍在的な発生要因や将来の展望などが現在の研究対象となっています。

マイクロプラスチック粒子(Micro-Plastics Particles; MPP) は、
特に海洋などの環境中に拡散した5mm未満の直径を有する
微小なプラスチック粒子を指します。

MPPを詳細に分析することで、MPPの起源と形成の両面について結論を導き、
汚染の程度を判断する取り組みがなされています。

当資料では、顕微FT-IRと顕微ラマンを用いたマイクロプラスチックの
分析について、解析事例や測定事例とともにご紹介しています。

【掲載内容】
■FT-IR分光法によるマイクロプラスチックの分析
■解析事例：フィルター濾過されたMPPの自動解析
■解析事例：MPPの誤検出
■測定事例：ビスコースレーヨンとセルロースの識別
■ラマン分光法によるMPPの分析
■まとめ

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赤外分光法は測定に用いる赤外線の波数範囲により、近赤外分光法、
(中)赤外分光法、遠赤外分光法の三つに大別できます。

それぞれのスペクトル領域がもつ特長を活かすことで、分析対象物に対する
理解をさらに深めることが可能となります。

当資料で紹介する「VERTEX FM」は、当社がもつ光学設計技術による新鋭の
ビームスプリッタおよび検出器をベースとし、光学部品を交換することなく
一回の測定で近赤外域の一部から中赤外/遠赤外にわたる広域スペクトルの
取得を可能にする「VERTEXシリーズ FT-IR」の新たなオプションです。

ここではとくに“中～遠”広域赤外スペクトルの測定事例を交え、
「VERTEX FM」の特長と測定の実際を紹介します。

【掲載内容】
■はじめに
■超広帯域ビームスプレッタ/超広帯域検出器
■実測定例
■まとめ
■参考文献

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当カタログでは、ブルカージャパンが取り扱う
自動車向け分析・計測ソリューションをご紹介しています。

自己診断・自動性能検査機能標準装備したプレミアムコンパクト FT-IR
「ALPHA II」をはじめ、研究開発用FT-IR スペクトロメータ「INVENIO R」、
トライボロジー評価試験機「UMT-TriboLab」などを掲載。

製品の選定にご活用下さい。

【掲載製品（一部）】
■プレミアムコンパクト FT-IR「ALPHA II」
■高性能プロセスガス分析 FT-IR「MATRIX-MG5」
■フルオート顕微FT-IR システム「LUMOS II」
■高速赤外イメージング顕微鏡「HYPEION3000」
■研究開発用FT-IR スペクトロメータ「INVENIO R」

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