平面形状測定装置『OptoFlat』

『OptoFlat』干渉計は、低コヒーレンス干渉原理を使用し、平面形状を裏面の影響を受けることなく簡単に測定することが可能です。LED光源のため電源ONで即時に測定可能な上、アライメント補助機構により、初めて干渉計を使う方でも操作が容易で即戦力として活躍します。
光学部品だけでなく、金属・セラミックス部品や金型の平面部など、幅広い用途でお使い頂けます。

■裏面反射の低減（裏面キャンセル厚さ0.3mm以上）
レーザー干渉計では、平行平面サンプルの測定において、表面の反射波面に裏面の反射波面が影響して測定が困難なケースがありますが、低コヒーレンス干渉原理では、短い領域でコヒーレンスを制限することにより、裏面からの干渉の抑制が可能になり、表面のみからの干渉縞が生成されます。

■現場向きの使いやすさ
アライメント補助機構があるため、初めて使用する方でも容易に測定ができます。また光量の自動調節により、反射率の大きく異なるワークでも基準板の交換の必要がありません。更にマウスを触らなくても非接触センサーで解析スタートができるため、操作による振動の心配も不要です。 （詳細を見る）

4月19日（水）～21日（金）の3日間、「OPIE‘2023レンズ設計・製造展」に出展いたします。
新しい技術を弊社よりものづくりに貢献すべく、超精密の中枢を担う光学関係のお客様に役立つ製品のご紹介をさせて頂きます。
省人化、自動化、効率化、生産性向上と多様なテーマを必要とされるお客様に向けて、弊社で新しい技術の提案と、貢献をさせていただきたいと思います。

【展示会概要】
■OPIE2023レンズ設計・製造展■
会期：2023 4.19Wed.～21Fri.　10:00-17:00
場所：パシフィコ横浜　アネックスホール
ブース小間番号　I-01

【出展製品】
■Satisloh：非球面加工の研削・研磨のラインナップ
■OptoFlat：平面形状測定用反射・透過波面測定　低コヒーレンス干渉計
■【新登場】非球面金型検査装置：金型のDLC膜抜け・ドロップレットを自動検出
■ガラスレンズプリフォーム欠陥検査装置：レンズPFの欠陥を自動で検出

沢山の皆様の御来場をお待ちしておりますので、ぜひ弊社ブースへお立ち寄りください。
※関連リンクよりお申し込みください。 （詳細を見る）