ブルカージャパン株式会社オプティクス事業部
最終更新日：2024-03-06 10:43:26.0
IN271F 製薬工業のプロセス用FT-NIR透過反射プローブ
基本情報IN271F 製薬工業のプロセス用FT-NIR透過反射プローブ
ブルカー社で開発した透過反射プローブによりスラリーやエマルジョンの測定が可能で、発酵/培養プロセスのモニタリングが可能です。
ブルカー社で開発した透過反射プローブによりスラリー、エマルジョン、乳製品、クリームの測定や、発酵槽中の反応モニタリングが可能です。お客様のご指定の各種フランジを溶接してご提供可能です。高温タイプもご提供可能です。
【技術資料】FT-NIR 発酵プロセスのオンラインモニタリング
製薬業界では、厳格なレギュレーションの要求により、発酵プロセスの連続制御が製造プロセスの重要な要素となっています。ブルカーでは難度の高い発酵プロセスの測定に、長年取り組んできました。ブルカーで開発した透過反射プローブによりスラリーやエマルジョンの測定が可能で、FT-NIR（近赤外）分光法を用いた発酵/培養プロセスのモニタリングが可能です。お客様のご指定の各種フランジを溶接してご提供可能です。高温タイプもご提供可能です。 （詳細を見る）
オンライン用近赤外分析計（FT-NIR） MATRIX-F II
プロセス用近赤外分光計（FT-NIR）のMATRIX-F IIは設置環境を選ばない堅牢性と、再現性の高い分析結果を与える抜群の感度安定性が特徴です。 （詳細を見る）
フーリエ変換近赤外分光計（FT-NIR）『MPA II』
『MPA II』は、液体・固体・粉体・錠剤・カプセルなど様々な試料の
定性・定量分析を1台で行えるフーリエ変換近赤外分光計（FT-NIR）です。
前処理なく短時間（計測時間1分以内）で高精度な分析が行え、生産性向上に寄与します。
多くの光学系オプションやサンプリングアクセサリをご用意しております。
品質管理やメソッド開発等、多目的に使用いただける分光計です。
サンプリングアクセサリの選択・切り替えはソフトウェアで制御されており、
それぞれの性能検証も自動で実行されるため煩雑な操作は一切不要です。
遠隔で複数台の装置性能管理や検量線アップデートを行うネットワーク管理用ソフトウェア「ONET」に対応しています。
【特長】
■GMP・21CFR Part11準拠
■バリデーション対応、自己診断機能内蔵
■医薬品（PAT）・食品・化学品などのプロセス評価に
■ネットワーク対応・ブラウザオペレーション
※詳しくは資料をご覧ください。お問い合わせもお気軽にどうぞ。 （詳細を見る）
【技術資料】FT-NIRを利用する理由はなんでしょう
当資料は、従来の湿式化学分析やクロマトグラフィーと比較して、
多くの利点があるFT-NIRテクノロジーについて掲載している技術資料です。
NIR分光法の優位性をはじめ、モニタリングの例や
アプリケーションについてご紹介しています。
【掲載内容】
■NIR分光法の優位性
■アプリケーション
■原料確認試験
■複数項目の定量分析
■インラインのプロセス制御
■まとめ：低コストで迅速・簡便な分析 ほか
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 （詳細を見る）
リアクションモニタリング FT-IR『MATRIX-MF』
『MATRIX-MF』は、化学反応や生化学反応のリアルタイムモニタリングや
分析に好適なプロセス測定用FT-IR分光計です。
恒久的なアライメントが保証されたRockSolid干渉計とDigitect検出器機構
により、過酷な環境下においても高品質なスペクトルが安定的に得られます。
また、製造プロセス環境に耐えうる堅牢設計でありながら、ラボでの
アプリケーションにも適したコンパクトなデザインとなっています。
【特長】
■迅速な非破壊分析
■インラインプロセス測定に好適
■6ポートのマルチプレクサを内蔵可能
■複数成分の同時測定
■各種産業用通信プロトコルに対応
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 （詳細を見る）
FT-NIR プロセス分光計『MATRIX-F II』
『MATRIX-F II』は、プロセスアプリケーション専用のフーリエ変換
近赤外分光計（FT-NIR）です。
革新的な設計により、高精度で一貫した分析結果、ダウンタイムの短縮、
分析メソッドの直接的な移設を実現するとともに、新たなアプリケーションの
可能性を提供。
業界標準の通信プロトコルを完全にサポートしており、上位システムにも
簡単に統合できます。
【特長】
■正確なインライン測定結果を数秒で出力
■複数の項目を同時に分析
■非破壊分析
■6ポートマルチプレクサを内蔵
■手間のかからない分析メソッドの移設
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 （詳細を見る）
FT-NIRプロセス分光計『BEAM』※JASIS2024出展
『BEAM』は、FT-NIR分光法の利点を最大限に引き出す単一測定点専用の
NIR分光計です。
製造工程を直接かつリアルタイムでモニタリングすることで、
製造のばらつきを改善。
固体や半固体材料の測定に最適化され、パイプライン、ホッパー、
ベルトコンベヤー上に簡単に設置できます。
【特長】
■さまざまなアプリケーションに対応するFT方式の優位性
■RockSolidテクノロジーによる高い精度と長期安定性
■システムの中断を回避するデュアル光源ランプオペレーションモード
■設置が容易な小型・軽量デザイン
■過酷な環境に対応するIP65保護等級
■将来を見据えた接続性
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
※9月4日（水）～6日（金）に幕張メッセ国際展示場で開催される
『JASIS2024』2024に出展いたします。
是非ブルカージャパンのブースにお越しください！ （詳細を見る）
取扱会社 IN271F 製薬工業のプロセス用FT-NIR透過反射プローブ
物質工学、材料科学、環境科学、生命科学などの先端研究分野と、食品、農業、医薬品、化学、石油化学、電気電子等の産業界における製品開発、生産管理、品質管理を対象とした、赤外・近赤外・ラマンの各分光分析装置ならびに周辺機器と、それらに付随するアフターサービスを提供しています。
IN271F 製薬工業のプロセス用FT-NIR透過反射プローブへのお問い合わせ
お問い合わせ内容をご記入ください。
