ブルカージャパン株式会社 FT-NIRプロセス分光計『BEAM』※JASIS2024出展
- 最終更新日：2024-12-02 08:53:04.0
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受入検査から工程管理、最終製品検査までのさまざまな段階のモニタリングに活用可能！【JASIS2024出展】
『BEAM』は、FT-NIR分光法の利点を最大限に引き出す単一測定点専用の
NIR分光計です。
製造工程を直接かつリアルタイムでモニタリングすることで、
製造のばらつきを改善。
固体や半固体材料の測定に最適化され、パイプライン、ホッパー、
ベルトコンベヤー上に簡単に設置できます。
【特長】
■さまざまなアプリケーションに対応するFT方式の優位性
■RockSolidテクノロジーによる高い精度と長期安定性
■システムの中断を回避するデュアル光源ランプオペレーションモード
■設置が容易な小型・軽量デザイン
■過酷な環境に対応するIP65保護等級
■将来を見据えた接続性
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
※9月4日（水）～6日（金）に幕張メッセ国際展示場で開催される
『JASIS2024』2024に出展いたします。
是非ブルカージャパンのブースにお越しください！
基本情報FT-NIRプロセス分光計『BEAM』※JASIS2024出展
【展示会概要】
■展示会名：JASIS 2024
■会期：2024年9月4日 (水) ～ 6日 (金)
■時間：午前10時～午後17時
■住所：千葉県千葉市美浜区中瀬2-1
■会場：幕張メッセ国際展示場
■ブース番号：7A-301
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カタログFT-NIRプロセス分光計『BEAM』※JASIS2024出展
取扱企業FT-NIRプロセス分光計『BEAM』※JASIS2024出展
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物質工学、材料科学、環境科学、生命科学などの先端研究分野と、食品、農業、医薬品、化学、石油化学、電気電子等の産業界における製品開発、生産管理、品質管理を対象とした、赤外・近赤外・ラマンの各分光分析装置ならびに周辺機器と、それらに付随するアフターサービスを提供しています。
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