東芝ナノアナリシス株式会社
最終更新日：2023-12-18 13:07:25.0
崩壊遅延するOD錠の内部状態観察
崩壊遅延するOD錠の内部状態観察
苛酷試験前後のOD錠の内部構造の変化を捉えることで、顧客工程改善の
一助となった事例をご紹介します。
X線CTは非破壊で試料内部のX線吸収率の空間的な分布を可視化する手法。
試料内部が変化すると、試料内部のX線吸収率分布に変化が起こる場合があり、
定量化することで、試料内部でどのような変化が起きたかの推測が可能。
一定の大きさの領域内でのX線吸収率のヒストグラムの形状を表す値
「歪度」は、試料内部の状態を表す有用な量の一つです。
【データの取得と解析の流れ】
■試料
■X線CT観察
■3次元X線吸収率データ
■データ解析
■複数の領域内の吸収率分布の歪度の3次元分布
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 （詳細を見る）
取扱会社 崩壊遅延するOD錠の内部状態観察
■半導体製品、FPD、電子部品およびそれらの品質信頼性評価用ユニットの 故障解析、構造解析、材料分析、インプロセスQC関連分析、プロセス評価、 清浄化評価、化学分析および評価 ■金属、セラミックス、液晶、高分子材料、新素材、原子力材料の物理分析、 化学分析および評価 ■作業環境測定およびナノマテリアル環境評価、医療、医薬を支援する 封じ込め性能評価や抗がん剤汚染評価
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