ブルカージャパン株式会社オプティクス事業部
最終更新日：2024-03-12 17:04:51.0
FT-NIRプロセス分光計『BEAM』
FT-NIRプロセス分光計『BEAM』
『BEAM』は、FT-NIR分光法の利点を最大限に引き出す単一測定点専用の
NIR分光計です。
製造工程を直接かつリアルタイムでモニタリングすることで、
製造のばらつきを改善。
固体や半固体材料の測定に最適化され、パイプライン、ホッパー、
ベルトコンベヤー上に簡単に設置できます。
【特長】
■さまざまなアプリケーションに対応するFT方式の優位性
■RockSolidテクノロジーによる高い精度と長期安定性
■システムの中断を回避するデュアル光源ランプオペレーションモード
■設置が容易な小型・軽量デザイン
■過酷な環境に対応するIP65保護等級
■将来を見据えた接続性
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 （詳細を見る）
取扱会社 FT-NIRプロセス分光計『BEAM』
物質工学、材料科学、環境科学、生命科学などの先端研究分野と、食品、農業、医薬品、化学、石油化学、電気電子等の産業界における製品開発、生産管理、品質管理を対象とした、赤外・近赤外・ラマンの各分光分析装置ならびに周辺機器と、それらに付随するアフターサービスを提供しています。
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