FT-NIRプロセス分光計『BEAM』

『BEAM』は、FT-NIR分光法の利点を最大限に引き出す単一測定点専用の
NIR分光計です。

製造工程を直接かつリアルタイムでモニタリングすることで、
製造のばらつきを改善。

固体や半固体材料の測定に最適化され、パイプライン、ホッパー、
ベルトコンベヤー上に簡単に設置できます。

【特長】
■さまざまなアプリケーションに対応するFT方式の優位性
■RockSolidテクノロジーによる高い精度と長期安定性
■システムの中断を回避するデュアル光源ランプオペレーションモード
■設置が容易な小型・軽量デザイン
■過酷な環境に対応するIP65保護等級
■将来を見据えた接続性

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
※9月4日（水）～6日（金）に幕張メッセ国際展示場で開催される
　『JASIS2024』2024に出展いたします。
　是非ブルカージャパンのブースにお越しください！ （詳細を見る）

本ウェビナーでは赤外分光計および近赤外分光計を活用した
プラント規模の反応追跡や工程管理をテーマとし、
前半では、測定時間やコスト面で課題のあるガスクロの代替手段となる
ガス分析用FT-IR製品およびアプリケーション例を
後半では、新製品BEAMを含むFT-NIR製品および
代表的なアプリケーション例をわかりやすく紹介させていただきます。

食品・化学・環境・製薬分野での分析法の研究・生産技術・品質管理に
携わっている方は特におすすめです。
この機会にぜひ多くの皆様にご視聴頂けますと幸いです。

【開催のご案内】
■開催日：2024年6月18日（火）14:00～15:00
■参加費：無料
■プログラム
・14:00-14:30
　ガス分析用FT-IRの アプリケーションおよびプロセスモニタリングへの利用
・14:30-15:00
　FT-NIRによる製造工程のモニタリングおよび新製品BEAMのご紹介

※ご参加には事前登録が必要となります。
※下記の「参加登録ページ」より申込ください。 （詳細を見る）