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半導体・電子部品の内部を映像化!欠陥を見つける超音波診断装置
超音波を使って非破壊・非接触で半導体内部を評価!【省スペース・低コスト】
超音波C-SCAN画像診断装置「InsightScan IS-350」は、超音波を使って非破壊で半導体内部を評価する装置です。 高速・高解像度新型スキャンシステムで、最小0.5μm各軸移動量、超高速…
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超音波を使って非破壊・非接触で半導体内部を評価!【省スペース・低コスト】
超音波C-SCAN画像診断装置「InsightScan IS-350」は、超音波を使って非破壊で半導体内部を評価する装置です。 高速・高解像度新型スキャンシステムで、最小0.5μm各軸移動量、超高速…
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