掲載開始日：2023-05-24 00:00:00.0

初心者向けオンライン講座(e-learning)【表面分析】

表面分析を基礎から学びたい方向きの講座です。
以下について、易しく、コンパクトに解説しています。

表面分析について
TOF-SIMS:飛行時間型２次イオン質量分析法（原理、スペクトル例）
RBS：ラザフォード後方散乱分析法（原理、スペクトル例）
XPS：X線光電子分光法（原理、スペクトル例）
測定事例：有機EL素子

受講特典として「講座内容に対する質問回答サービス」がついており、「分析手法の原理について、理解を深めたい」、「測定事例について、不明な点があるので詳しく説明して欲しい」など、動画形式の講義ではお伝えするのが難しい事項について、分析の専門家が回答いたします。

◎お申し込みのお手続きの詳細はこちらです。
https://www.toray-research.co.jp/educ/seminar/online/index.html

初心者向けオンライン講座(e-learning)【表面分析】

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表面分析を基礎から学びたい方向きの講座です。 TOF-SIMS、RBS、 XPSについて、原理・スペクトル例を解説しています。

表面分析を基礎から学びたい方向きの講座です。受講期間中、本講座に関する質問を受け付けております。以下について、易しく、コンパクトに解説しています。表面分析について TOF-SIMS:飛行時間型２次イオン質量分析法（原理、スペクトル例） RBS：ラザフォード後方散乱分析法（原理、スペクトル例） XPS：X線光電子分光法（原理、スペクトル例） …

取扱会社

株式会社東レリサーチセンター

■受託分析・分析対象：半導体・実装、ディスプレイ・プリンター、電池・エネルギー、自動車、工業材料、環境、ライフイノベーション、医薬、バイオ ■受託調査・調査対象：化学・材料、環境・エネルギー・ライフサイエンス、その他 ■教育事業・分析基礎講座：分光分析、顕微鏡、物性分析、医薬分析、クロマトグラフィー、有機分析、発生ガス、電池、実習付き講座等 ■製品販売・ピンポイント濃縮プレート

公式サイト

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