株式会社Wave Technology 【事例】熱抵抗受託解析・熱抵抗検査装置のご提供
- 最終更新日:2019-12-26 14:25:58.0
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『業界初の手法』!独自技(特許出願中)を用いて正しい解を導き出します。
・カスタムの熱抵抗検査装置
・半導体製品の熱抵抗解析受託(実測及びシミュレーション)
弊社独自技術により、曖昧な部分を多く含んだ半導体実製品PKGの熱抵抗解析を、これまでにない精度で検証することができます。
『業界初の手法』として特許出願中。
基本情報【事例】熱抵抗受託解析・熱抵抗検査装置のご提供
【特徴】
○弊社受託評価用システムの例
○最大10chでの並列測定が可能
○定電流、定電圧、定電力の3モードに対応
⇒2端子制御の制約内で定電力コントロールが可能
○定電流、定電圧、定電力の3モードにおいてPWMによる発熱動作が可能
○定常/過渡の両方に自動測定対応可能(過渡は条件付き)
○全波形情報を自動保存し、Viewer機能で集録可能
○新しいJEDEC規格である“JESD51-14”に対しても、検査装置自体は標準対応(冷却過程での測定)
●詳しくはカタログダウンロードしてください。
価格情報 | お気軽にお問い合わせください。 |
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納期 | お問い合わせください |
用途/実績例 | 【用途】 ○マイコン、ASIC等の機能デバイスから、PowerMOSFET、IGBT等のディスクリートデバイスまで、熱解析(実測とシミュレーション)を行なえる環境があります。 |
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