株式会社Wave Technology 【事例】導通ＯＰＥＮモニタリングシステム
- 最終更新日：2019-12-26 14:40:50.0
- 印刷用ページ
落下衝撃試験等に最適！機械的ストレスの瞬間をモニタリングします！
・落下衝撃試験等、一定周期で発生する機械的ストレスに対し、電子部品の導通経路で電気抵抗が高くなる、もしくはOPNEとなる瞬間をモニタリングできるシステム。
・衝撃信号（加速度等）のトリガ情報を基点に前後一定期間を10msec間抵抗値データを1μsec間隔で集録（10000point）。
・管理規格との比較で、各chのピ－ク抵抗値が管理値を超えるとイベント信号を発生することができる。
・保存した情報は、集録中/集録後に関わらず、Viewer機能により再読み出し可能。又、ピーク抵抗値等の結果はテキストデータとして抽出可能。
基本情報【事例】導通ＯＰＥＮモニタリングシステム
【特徴】
○抵抗値（最大16CH）
○MaxG、MinG、加速度波形width（パルス幅）
⇒加速度波形管理アプリケーションで保存されるデータを解析読み出し、統合管理。
○各項目統計情報
○各項目のサイクル毎データ及び全CHの抵抗値波形データを随時保存。
○既存データを読み出しての継続試験も可能。
●詳しくはカタログダウンロードしてください。
| 価格情報 | お気軽にお問い合わせください。 |
|---|---|
| 納期 | お問い合わせください |
| 用途／実績例 | 【実績例】 ○加速度関連情報管理アプリケーション ⇒導通ＯＰＥＮチェックシステム側で、加速度関連パラメータも統合管理 |
カタログ【事例】導通ＯＰＥＮモニタリングシステム
取扱企業【事例】導通ＯＰＥＮモニタリングシステム
-
-
半導体およびその応用製品の開発・設計 ◇高周波・光半導体の設計・開発 ◇筐体・機構設計、シミュレーション ◇パワーエレクトロニクス関連設計・開発 ◇アナログ・デジタル電気回路の設計・開発 ◇カスタム計測システム設計、半導体パッケージ設計
【事例】導通ＯＰＥＮモニタリングシステムへのお問い合わせ
お問い合わせ内容をご記入ください。
