株式会社Wave Technology 【事例】イベントディテクタシステム(環境試験槽連動)

最大160chの瞬断Eventを同時にモニタリング可能!!

・温度サイクル槽と連動して、導通部分の瞬断Eventを1μsecの分解能でモニタリングすることができるシステム。
・最大160chの瞬断Eventを同時にモニタリングすることができ、瞬断Event以外にも関連する複数の情報を取得・表示・保存。
・Event情報(各ch毎)
・Event発生回数、発生期間(瞬断時間)
・サイクル数、温度、冷熱衝撃試験器温度遷移情報(up/down/hold)
・ファイルの扱いについても柔軟に対応しており、複数のファイルを同時に扱うことが可能。
・新規/既存に関わらす、最大15種類のファイルを同時に扱うことが可能。
・既存ファイル選択時は前回終了時点からの継続で試験を実施することが可能。
・アプリケーションソフトは、集録アプリとViewerアプリ(保存データ分析用)の2種類が用意。Viewer機能は集録アプリにも搭載されており、Event発生状況確認やcsvフォーム出力が可能。
・12ch/1ブロックと20ch/1ブロックで異なるアプリケーションを用意(標準:12ch/1ブロック)。

基本情報【事例】イベントディテクタシステム(環境試験槽連動)

【特徴】
<管理項目>
○瞬断Event情報(最大160CH)~Event有無、Event発生回数、Event発生期間(瞬断時間)。
○サイクル情報、温度情報、試験器温度遷移情報(up/down/hold)。
○Event管理制限。
⇒Eventの発生回数は最大1000カウントまで(1001カウント以上は記録しない)。
⇒Eventの連続カウントは20カウントまで(High/Low期間共に50msec以下のEvent波形が連続する場合を連続カウントとみなす)。
⇒連続カウントが20カウントを超えた場合、要件を満たさなくなるまで、カウントstop。
<ファイル管理>
○複数のファイルを同時に扱うことが可能。
⇒新規/既存に関わらす、最大15種類のファイルを同時に生成及び選択可能。
⇒既存ファイル選択時は前回終了時点からの継続で試験を実施。

●詳しくはカタログダウンロードしてください。

価格情報 お気軽にお問い合わせください。
納期 お問い合わせください
用途/実績例 【用途】
○環境試験のモニタリング

カタログ【事例】イベントディテクタシステム(環境試験槽連動)

取扱企業【事例】イベントディテクタシステム(環境試験槽連動)

WTIロゴ_120403.JPG

株式会社Wave Technology

半導体およびその応用製品の開発・設計 ◇高周波・光半導体の設計・開発 ◇筐体・機構設計、シミュレーション ◇パワーエレクトロニクス関連設計・開発 ◇アナログ・デジタル電気回路の設計・開発 ◇カスタム計測システム設計、半導体パッケージ設計

【事例】イベントディテクタシステム(環境試験槽連動)へのお問い合わせ

お問い合わせ内容をご記入ください。

至急度必須
ご要望必須

  • あと文字入力できます。

目的必須
添付資料
お問い合わせ内容

あと文字入力できます。

【ご利用上の注意】
お問い合わせフォームを利用した広告宣伝等の行為は利用規約により禁止しております。

はじめてイプロスをご利用の方 はじめてイプロスをご利用の方 すでに会員の方はこちら

イプロス会員(無料)になると、情報掲載の企業に直接お問い合わせすることができます。

※お問い合わせをすると、以下の出展者へ会員情報(会社名、部署名、所在地、氏名、TEL、FAX、メールアドレス)が通知されること、また以下の出展者からの電子メール広告を受信することに同意したこととなります。

株式会社Wave Technology

【事例】イベントディテクタシステム(環境試験槽連動) が登録されているカテゴリ