JIS C 60068-2-27　高衝撃試験日本ビジネスロジスティクス（JBL）

小型電子部品等の高衝撃試験（対応可能な衝撃範囲は10～30,000G）が実施できます

この試験機は主に小型の電子部品等の衝撃試験ができます。　
試験は正弦半波､台形波、のこぎり波などに対応しており（当社の場合は正弦波のみに対応）、IEC規格、JIS規格、MIL規格、JEITA（EIAJ）規格、その他の社内規格などにも対応しております｡
作用時間にもよりますが、対応可能な衝撃範囲は10～3,000Gとなります。
当社の場合はショックアンプを使い30,000Gまで対応可能となります。
また、この試験機は､ニューマチック方式により広範囲（衝撃加速度／作用時間）の試験条件が容易に再現することができます｡　

【試験規格】
・JIS C 60068-2-27
・IEC 60068-2-27
・MIL-STD-202
・MIL-STD-810
・MIL-STD-883
・EIAJ ED-4701/400
など

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基本情報JIS C 60068-2-27　高衝撃試験

主な仕様
制御方式：コンピュータによるプログラム制御方式
駆動方式：ニューマチック方式
衝撃波形：正弦半波、のこぎり波
加速度範囲：10から300 G　（作用時間による）
作用時間：0.1から30 ms　　（加速度による）
最大速度：838cm／s
繰返し周期：最大8回／min
最大搭載重量：90 kg

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