JIS C 60068-2-27 高衝撃試験

この試験機は主に小型の電子部品等の衝撃試験ができます。　
試験は正弦半波､台形波、のこぎり波などに対応しており（当社の場合は正弦波のみに対応）、IEC規格、JIS規格、MIL規格、JEITA（EIAJ）規格、その他の社内規格などにも対応しております｡
作用時間にもよりますが、対応可能な衝撃範囲は10～3,000Gとなります。
当社の場合はショックアンプを使い30,000Gまで対応可能となります。
また、この試験機は､ニューマチック方式により広範囲（衝撃加速度／作用時間）の試験条件が容易に再現することができます｡　

【試験規格】
・JIS C 60068-2-27
・IEC 60068-2-27
・MIL-STD-202
・MIL-STD-810
・MIL-STD-883
・EIAJ ED-4701/400
など

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JIS C 60068-2-31(落下試験及び転倒試験）の概要：
・この規格は2008年に第2版として発行されたIEC 60068-2-31を基に技術的内容及び構成を変更することなく作成した日本工業規格です。
・この規格は使用中又は修理作業中に粗雑な取扱いで発生するような打撃、急激な動揺及び落下によって機器及びその附属品ユニット（以下、機器等といいます。）が受ける影響を再現する試験方法について規定します。
・この試験方法は例えば小型から中型までの大きさの機器等で粗雑な取扱いを受けやすいものだけに対してそれらの製品規格で規定し、またこのような取扱いを受けるおそれがある機器等の面及び角だけに適用することが望ましい。

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１．JIS C 60068-2-30 試験の概要：
・JIS C 60068-2-30 では「高湿度環境下で温度変化が繰り返されて、部品、機器またはその他の製品の表面に結露が生じるような条件で使用、輸送または保管する供試品に対する適性を判定するための試験方法です。
・小形又は体積が小さい供試品の場合には，この試験手順では供試品の表面に結露しにくい場合があります。その場合，JIS C 60068-2-38 などの別の試験規格を用いることが望ましい。
・この試験は相対湿度を高く維持した状態で温湿度サイクルを1回以上行います。

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IEC 60068-2-64（JIS C 60068-2-64）広帯域ランダム振動試験による製品評価試験並びに、包装された状態での製品評価試験をご検討されている場合、詳細に関するお問い合わせは下記までお願い致します。

なお、日本ビジネスロジスティクス（以下、JBL）では、振動 ・落下・衝撃 ・圧縮 ・減圧・温湿度といった各種の包装試験設備をバランスよく取り揃えており、JISやISO、ASTM、ISTA、IECなどの公的な試験規格による試験評価もおこなっています。

包装・製品試験の御用命・ご相談は下記の電話番号へお問い合わせください。

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１．JIS C 60068-2-38 試験の概要：
・ JIS C 60068-2-38 では高温高湿及び低温条件で主として電気・電子部品の劣化を加速した方法で判定する温湿度組合わせ（サイクル）試験を規定しており供試品の欠陥を水分の吸収によって発生させるのではなく呼吸作用によって発生させることを目的とした温湿度サイクル試験方法です。
・この試験は他の温湿度サイクル試験とは異なり以下の通り試験の厳しさを強めています：
◇規定時間内での温度上下回数が多い
◇温度変化の範囲が広い
◇温度変化の速度が速い
◇0度以下の温度サイクルを含んでいる

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JIS C 60068-3-4(高温高湿試験）の概要：
・耐湿試験の目的は結露の有無に関わらず電気製品・電子製品の電気的および機械的特性が高い相対湿度の気象条件に耐える能力を判定することであり、また湿度試験はある種の腐食作用に対する供試品の耐食性を評価することです。
・当社では恒温恒湿試験機を用いた環境試験（高温高湿試験、温湿度サイクル試験、高温放置試験、低温放置試験）を実施しております。
温度だけでなく湿度の調整も行うことができますので様々な温度・湿度環境下での信頼性試験を行う事が可能です。

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・JIS C60068-2-64はIEC 60068-2-64を基に技術的内容及び構成を変更することなく作成した日本工業規格です。
・当該振動試験規格は主として電気製品または電子製品を対象（必ずしも電気製品・電子製品に限定されたものではない）としたものであり航空・宇宙分野や地上車両などの輸送環境または使用状況で生じるランダム振動を受ける供試品に適用されます。

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