【技術資料】分光エリプソメーター測定原理～偏光とは？　※資料進呈日本セミラボ

偏光・エリプソメーター・ブリュースター角など！図やグラフと共に分かりやすくご紹介。デモ可能

当資料は、分光エリプソメーターの測定原理についてご紹介しています。
電場および磁場の振動方向が規則的な光のことをいう「偏光」をはじめ、
エリプソメーターの原理、光学干渉についてなどを掲載。

図やグラフと共に分かりやすくご紹介しているので、ぜひ、ご一読ください。

【掲載内容（抜粋）】
■偏光とは
■サンプル表面の変更
■エリプソメーターとは
■エリプソメーターの原理
■ブリュースター角とは

〈　ウェビナーを開催いたします！※詳細　〉
■テーマ：分光エリプソメータ解析モデル作成手順の説明～初級編～
■開催日時
・4/22(木) 10:00～
・5/13(木) 16:00～
■内容
一般的な構造のサンプルを例にして、解析モデルの作成手順をご説明します。
有効媒質近似モデル、Cauchyモデル、Tauc-Lorentzモデルを使用した解析の説明。
■ご参加について
当社ホームページ（下記リンク）でご確認ください。

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
※デモのご希望の方は、下記お問い合わせボタンより”デモ希望”と記載ください。

関連リンク - https://www.semilab-j.jp/seminar/

基本情報【技術資料】分光エリプソメーター測定原理～偏光とは？　※資料進呈

【その他の掲載内容】
■光学干渉について
■解析アプローチ
■解析プロセス
■測定結果イメージ
■お問い合わせ先

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取扱企業【技術資料】分光エリプソメーター測定原理～偏光とは？　※資料進呈

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■半導体測定装置の輸入販売及び技術サービスの提供 ■下記製品の取り扱いをしています。分光エリプソメーター非接触シート抵抗測定装置 DLTS測定システムナノインデンター AFM（原子間力顕微鏡）キャリア移動度測定装置非接触CV測定装置ライフタイム測定装置フォトルミネッセンス装置仕様や価格情報などお気軽にお問い合わせください。