株式会社シーアイエス VCC-SXCXP1SW
- 最終更新日：2024-08-19 15:23:08.0
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400nm～1700nmの検出波長帯により、見えなかったワークの検査が可能なCoaXPressカメラが新登場！
カメラ1台で可視＋SWIR画像を取得できます。
【SWIR帯域下での検査のメリット】
■可視光下では同色に見える被写体が、SWIR帯域下では水分浸透率により異なる色に映り、素材や内容物の違いが判別可能。
■液体の種類により光を吸収したり透過するので、内容物の有無や量、異物の混在が判別可能。
■葉脈や果物の打痕が強調して見えるようになり、鮮度確認や品質検査に有効。
これらの特長を活かし、ウェハ検査、電子基板検査、食品検査、農産物検査、薬粧・錠剤検査、識別分類、工程品質管理などの様々なアプリケーションへの活用が期待されます。
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、弊社営業部までお問い合わせ下さい。
基本情報VCC-SXCXP1SW
モデル名： VCC-SXCXP1SW
センサ：SONY SenSWIR IMX990 (SWIR)
センササイズ：1/2型
ユニットセルサイズ：5×5µm
有効画素数：1296×1032
解像度：SXGA
フレームレート：134.73fps(8bit)、125.2fps(10bit)、71.52fps(12bit)
レンズマウント：Cマウント
外形寸法：65×65×65mm
製品ステータス：受注受付中
その他特徴：BNCコネクタ、外部トリガ、ROI、照明トリガ制御、検出波長帯400-1700nm、低価格化を実現
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、弊社営業部までお問い合わせ下さい。
| 価格帯 | お問い合わせください |
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| 納期 | お問い合わせください |
| 型番・ブランド名 | VCC-SXCXP1SW |
| 用途／実績例 | ウェハ検査、電子基板検査、食品検査、農産物検査、薬粧・錠剤検査、識別分類、工程品質管理など |
カタログVCC-SXCXP1SW
取扱企業VCC-SXCXP1SW
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CISは30年に渡り培ってきたCCD駆動技術をベースに、積極的に最新技術を取り入れ、付加価値の高いカメラ、応用製品、画像処理IPを開発、設計、製造、販売しています。画像処理アルゴリズムの開発に力を入れ、色補正、シェーディング補正、二値化処理、レンズ収差補正（倍率色収差、歪曲収差）、HDR処理、ノイズ制御等、ワイドD処理（合成処理、階調補正）他、最新技術を搭載したモデルの製品化も進んでおります。 また、当社で特許を取得した「画素ずらし」技術を用い、400M（4億）ピクセル以上という高解像度を実現したモデルも開発しました。そこで培った、高精度ピエゾステージ及び制御技術を、カスタムで低価格のピエゾステージとしてご提供しています。
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