in situ型ナノサイズ分布測定装置『VascoKin』ライフィクスアナリティカル

DLS測定、もう専用キュベットは不要！in situ型ナノサイズ分布測定装置のご紹介

『VascoKin』は、容器中のサンプルをそのまま評価できるin situ型の
ナノサイズ分布測定装置です。

容器ごとによるストレス試験など、容器によるサンプルの劣化を比較可能。
合成器、オートメーションロボットへの取付もできます。

また、オプティカルベンチ位置を工夫することで、高濃度試料への対応も
可能です。

【特長】
■容器中のサンプルをそのまま評価
■溶液中Dynamicsへの対応可能
■2秒ごとのデータ取得
■豊富なアプリケーション
■散乱強度の情報から粒子濃度情報の算出が可能

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

基本情報in situ型ナノサイズ分布測定装置『VascoKin』

【仕様（抜粋）】
■原理：動的光散乱法、静的光散乱法（Debye Plot）
■測定項目：粒子径、粒子径変化、絶対分子量
■レーザ波長：488, 532, 658nm（後付け可能）
■ディテクタ：APD
■検出角度：170°
■測定範囲：0.5nm～10μm

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