株式会社ケイ・オール X線検査での不良例
- 最終更新日：2024-06-27 10:12:30.0
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サンプル基板を使い、BGAを実装！それぞれの不良について説明いたします！
今回はX線検査での不良例をご紹介いたします。
それぞれの不良について、実装前の状態やマイクロスコープでの写真も併せて
説明いたします。
当社では、X線検査・マイクロスコープでの「検査のみ」も対応しております。
BGAだけでなく、QFN・CSP・LGA等も検査でき、1枚からでも
対応可能ですので、ぜひご相談ください。
詳細内容は、関連リンクより閲覧いただけますので、
ぜひご覧ください。
【X線検査での不良例】
■半田ショート
■ボール抜け
■ボール欠損
■半田流れ（ショート）
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
基本情報X線検査での不良例
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カタログX線検査での不良例
取扱企業X線検査での不良例
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当社は修正・改造が避けられないプリント基板の試作実装・改造において最先端の技術力を蓄積し、エレクトロニクス機器メーカー、設計開発会社の皆さまの、製品開発のTAT短縮をお手伝いし製品開発を全面的にバックアップいたします。
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