東京電子株式会社 受託サービス:デバイスの質量ガス分析

高精度の四重極型質量分析システムによる受託分析サービス。封止デバイス内部や接合ウェハー界面のガス分析を行います。

当社では、高精度の四重極型質量分析システムにより、お客様から受領した
サンプルのガス分析(リーク量測定)を行うサービスを提供しております。

分析装置に“低ガス放出”の0.2%BeCu合金製の真空構造材を採用しており、
デバイスの破壊試験による10^-15Pa・m3/s(He)以下という極微小リークの検出が可能。
封止デバイス内部や接合ウェハー界面のガス分析を行います。
半導体デバイスの不良解析、品質改善、品質管理に貢献します。

【測定例】
■半導体チップの各積層間の残留・放出ガス測定
■半導体ウェハー基板からのガス放出測定
■接合ウェハー界面のガス分析
■MEMSデバイスチップ内の残留ガス測定
■封止デバイスの極微小リークチェック

※「PDFダウンロード」より本サービスの紹介に加え、
 分析システムに関する解説を掲載した資料をご覧いただけます。
 お問い合わせもお気軽にどうぞ。

基本情報受託サービス:デバイスの質量ガス分析

【受託分析のフロー】
1.試験体を受領
2.試験体をチェックして試験方法、サンプルホルダー等のカウンセリング
3.装置にセッティング
4.試験体の破壊、放出ガスの分析
5.分析データの取得
6.分析結果の報告

※サービスの詳細は資料をダウンロードしてご覧ください。

価格帯 50万円 ~ 100万円
納期 ~ 1週間
用途/実績例 【関連動画】
 当社の質量ガス分析についてSemicon Japan2023展示会レポートの動画をアップしております。

 下記をクリックください↓
 https://www.youtube.com/watch?v=88hsasysg0A

詳細情報受託サービス:デバイスの質量ガス分析

当社では、高精度の四重極型質量分析システムにより、お客様から受領したサンプルのガス分析(リーク量測定)を行うサービスを提供しております。 
【受託分析サービスのフロー】
 1.顧客より試験体を受領 
 2.試験体のチェックをして試験方法、サンプルホルダー等のカウンセリング
 3.装置にセッティング
 4.試験体の破壊、放出ガスの分析
 5.分析データの取得
 6.顧客への分析結果報告

カタログ受託サービス:デバイスの質量ガス分析

取扱企業受託サービス:デバイスの質量ガス分析

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○自社ブランド真空計開発・設計・製造 ・コンビネーションゲージ  ・ピラニゲージ  ・コールドカソードゲージ  ・ホットカソードゲージ ○他社ブランド真空計開発・設計・製造 ・コンビネーションゲージ  ・ピラニゲージ  ・コールドカソードゲージ  ・ホットカソードゲージ  ・その他 ○加速器向け製品 ・各種真空計  ・真空ポンプ用電源  ・真空排気装置 ○電子(応用)機器の受託設計・製造 ・各種制御機器

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